Μέθοδος δοκιμής ολοκληρωμένου κυκλώματος χρησιμοποιώντας μόνο ένα πολύμετρο
Όχι στην οδική επιθεώρηση
Αυτή η μέθοδος εκτελείται όταν το IC δεν είναι συγκολλημένο στο κύκλωμα. Γενικά, ένα πολύμετρο μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τη μέτρηση των τιμών προς τα εμπρός και αντίστροφης αντίστασης μεταξύ κάθε πείρου και του πείρου γείωσης και τις συγκρίνει τις με άθικτο IC.
Στην οδική επιθεώρηση
Αυτή είναι μια μέθοδος ανίχνευσης της αντίστασης DC, της τάσης AC/DC στη γείωση και του συνολικού λειτουργικού ρεύματος κάθε πείρου ενός IC μέσω ενός πολύμετρο. Αυτή η μέθοδος ξεπερνά τους περιορισμούς της μεθόδου δοκιμής υποκατάστασης που απαιτεί αντικαταστάσιμη ICS και την ταλαιπωρία της αποσυναρμολόγησης ICS και είναι μια συνήθως χρησιμοποιούμενη και πρακτική μέθοδος για την ανίχνευση ICS.
1. Στη μέθοδο ανίχνευσης αντίστασης Circuit DC
Πρόκειται για μια μέθοδο χρήσης ενός εύρους πολυμέτρου OHM για την άμεση μέτρηση των τιμών αντοχής προς τα εμπρός και αντίστροφης DC διαφόρων ακίδων και περιφερειακών συστατικών του IC στην πλακέτα και συγκρίνετε τα με φυσιολογικά δεδομένα για την ανίχνευση και τον προσδιορισμό σφαλμάτων. Κατά τη μέτρηση, δώστε προσοχή στα ακόλουθα τρία σημεία:
(1) Πριν από τη μέτρηση, αποσυνδέστε την παροχή ρεύματος για να αποφύγετε την καταστροφή του μετρητή και των εξαρτημάτων κατά τη διάρκεια της δοκιμής.
(2) Η εσωτερική τάση του εύρους αντίστασης πολύμετρο δεν πρέπει να υπερβαίνει το 6V και το εύρος μπορεί να ρυθμιστεί είτε σε R × 100 είτε R × 1K.
(3) Κατά τη μέτρηση των παραμέτρων του ακροδέκτη IC, πρέπει να δοθεί προσοχή στις συνθήκες μέτρησης, όπως το δοκιμασμένο μοντέλο, η θέση του συρόμενου βραχίονα των ποτενσιόμετρων που σχετίζονται με το IC και την ποιότητα των συστατικών του περιφερικού κυκλώματος.
2. Μέθοδος μέτρησης τάσης εργασίας DC
Αυτή είναι μια μέθοδος μέτρησης της τάσης τροφοδοσίας DC και της τάσης λειτουργίας των περιφερικών εξαρτημάτων χρησιμοποιώντας ένα εύρος τάσης DC ενός πολύμετρο όταν ενεργοποιείται. Ανίχνευση των τιμών τάσης DC κάθε ακροδέματος του IC στη γείωση, συγκρίνετε τις με κανονικές τιμές και, στη συνέχεια, συμπιέσετε το εύρος σφάλματος για να προσδιορίσετε τα κατεστραμμένα εξαρτήματα. Κατά τη μέτρηση, πρέπει να σημειωθούν τα ακόλουθα σημεία:
(1) Ένα πολύμετρο θα πρέπει να έχει επαρκώς μεγάλη εσωτερική αντίσταση, τουλάχιστον 10 φορές μεγαλύτερη από την αντίσταση του κυκλώματος που δοκιμάζεται, για να αποφευχθούν σημαντικά σφάλματα μέτρησης.
(2) Συνήθως, γυρίστε κάθε ποτενσιόμετρο στη μεσαία θέση. Εάν πρόκειται για τηλεόραση, η πηγή σήματος θα πρέπει να χρησιμοποιεί μια τυπική γεννήτρια σήματος χρωμάτων.
(3) Ο ανιχνευτής ή ο ανιχνευτής πρέπει να είναι εξοπλισμένοι με μέτρα κατά της ολίσθησης. Κάθε στιγμιαίο βραχυκύκλωμα μπορεί εύκολα να βλάψει το IC. Μπορούν να ληφθούν οι ακόλουθες μέθοδοι για να αποφευχθεί η ολίσθηση του καθετήρα: πάρτε ένα τμήμα του πυρήνα της βαλβίδας ποδηλάτων και τοποθετήστε το στην άκρη του καθετήρα και επεκτείνετε την άκρη του καθετήρα κατά περίπου 0. Αυτό δεν μπορεί μόνο να εξασφαλίσει καλή επαφή μεταξύ της άκρης του ανιχνευτή και του δοκιμασμένου σημείου, αλλά και να αποτρέψει αποτελεσματικά την ολίσθηση και ακόμη και αν αγγίζει τα γειτονικά σημεία, δεν θα βραχυκνώσει.
(4) Όταν η τάση ενός συγκεκριμένου πείρου δεν ταιριάζει με την κανονική τιμή, είναι απαραίτητο να αναλυθεί εάν η τάση αυτού του πείρου έχει σημαντικό αντίκτυπο στην κανονική λειτουργία του IC και τις αντίστοιχες αλλαγές στην τάση άλλων ακίδων προκειμένου να προσδιοριστεί η ποιότητα του IC.
(5) Η τάση των ακίδων IC επηρεάζεται από περιφερειακά συστατικά. Όταν υπάρχει διαρροή, βραχυκύκλωμα, ανοικτό κύκλωμα ή αλλαγή τιμής στα περιφερειακά συστατικά ή όταν ένα ποτενσιόμετρο με μεταβλητή αντίσταση συνδέεται με το περιφερειακό κύκλωμα, η θέση του ποτενσιόμετρου ολισθαίνοντας βραχίονα θα προκαλέσει αλλαγές στην τάση του πείρου.
(6) Εάν η τάση κάθε πείρου του IC είναι φυσιολογική, θεωρείται γενικά ότι το IC είναι φυσιολογικό. Εάν η τάση των ακίδων στο IC είναι ανώμαλη, θα πρέπει να ελέγχεται για τυχόν σφάλματα στα περιφερειακά συστατικά που ξεκινούν από το σημείο όπου η απόκλιση από την κανονική τιμή είναι μέγιστη. Εάν δεν υπάρχουν σφάλματα, το IC είναι πιθανό να υποστεί βλάβη.
