Διάφορα χαρακτηριστικά της ομοεστιακής οπτικής μικροσκοπίας
Υψηλή αντίθεση, υψηλή ανάλυση
Σε ένα συμβατικό οπτικό μικροσκόπιο, η παρεμβολή συμβαίνει λόγω του ανακλώμενου φωτός από το τμήμα εκτός εστίασης, το οποίο επικαλύπτεται με το τμήμα απεικόνισης του εστιακού σημείου, με αποτέλεσμα τη μείωση της αντίθεσης της εικόνας. Αντίθετα, σε ένα ομοεστιακό οπτικό σύστημα, το διάσπαρτο φως έξω από το εστιακό σημείο και μέσα στον αντικειμενικό φακό εξαλείφεται σχεδόν πλήρως, με αποτέλεσμα εικόνες με πολύ υψηλή αντίθεση. Επιπλέον, η ικανότητα ανάλυσης του μικροσκοπίου βελτιώνεται επειδή το φως διέρχεται από τον αντικειμενικό φακό δύο φορές, αυξάνοντας την ευκρίνεια της σημειακής εικόνας.
Λειτουργία οπτικού εντοπισμού
Στο ομοεστιακό οπτικό σύστημα, το ανακλώμενο φως θωρακίζεται από το μικροδιάφραγμα σε σημείο διαφορετικό από το εστιακό σημείο. Επομένως, κατά την παρατήρηση ενός τρισδιάστατου δείγματος, η εικόνα σχηματίζεται σαν να είχε τεμαχιστεί το δείγμα με το εστιακό σημείο και αυτό το φαινόμενο ονομάζεται οπτικός εντοπισμός, που είναι ένα από τα χαρακτηριστικά του ομοεστιακού οπτικού συστήματος.
Λειτουργία μνήμης μετατόπισης εστίασης
Το ανακλώμενο φως έξω από το εστιακό σημείο εμποδίζεται από τη μικροβία, έτσι ώστε όλα τα σημεία στην εικόνα που δημιουργούνται από το ομοεστιακό οπτικό σύστημα να θεωρούνται ότι συμπίπτουν με το εστιακό σημείο. Μετακινώντας το στερεοφωνικό δείγμα προς την κατεύθυνση του άξονα Ζ (οπτικός άξονας) και συσσωρεύοντας τις εικόνες στη μνήμη, προκύπτει μια εικόνα στην οποία όλα τα σημεία του δείγματος συμπίπτουν με το εστιακό σημείο. Η λειτουργία εμβάθυνσης του βάθους εστίασης επ' αόριστον με αυτόν τον τρόπο ονομάζεται συνάρτηση κινούμενης μνήμης.
Λειτουργία μέτρησης σχήματος επιφάνειας
Προσθέτοντας ένα κύκλωμα καταγραφής ύψους επιφάνειας στη λειτουργία μετατόπισης εστίασης, το σχήμα της επιφάνειας ενός δείγματος μπορεί να μετρηθεί χωρίς επαφή. Με αυτήν τη λειτουργία, είναι δυνατό να καταγραφούν οι συντεταγμένες του άξονα Z της μέγιστης τιμής φωτεινότητας κάθε εικονοστοιχείου και να ληφθούν πληροφορίες σχετικά με το σχήμα της επιφάνειας του δείγματος με βάση αυτές τις πληροφορίες.
Λειτουργία μέτρησης μικροδιαστάσεων υψηλής ακρίβειας
Στη μονάδα λήψης φωτός χρησιμοποιείται ένας αισθητήρας απεικόνισης CCD 1D, ο οποίος επιτρέπει τη μέτρηση υψηλής ακρίβειας χωρίς να επηρεάζεται από την κλίση σάρωσης του σαρωτή. Επιπλέον, μια λειτουργία μνήμης μετατόπισης εστίασης με ρυθμιζόμενο βάθος εστίασης (εμβάθυνση) καθιστά δυνατή την εξάλειψη των σφαλμάτων μέτρησης που προκαλούνται από τη μετατόπιση εστίασης.
