Ταξινόμηση Φακών Ειδικού Αντικειμένου για Μεταλλουργικό Μικροσκόπιο
1, με αντικειμενικό δακτύλιο διόρθωσης (Correctioncollarobjective): στη μέση του αντικειμενικού φακού είναι εξοπλισμένος με δακτύλιο προσαρμογής τοποθετημένο σε δακτύλιο, κατά την περιστροφή του ρυθμιστικού δακτυλίου, μπορεί να ρυθμιστεί εντός του φακού αντικειμενικού φακού μεταξύ της απόστασης μεταξύ της ομάδας φακών, έτσι ώστε Η διόρθωση από το πάχος της καλυπτρίδας δεν είναι τυπική κάλυψη που προκαλείται από τη διαφορά. Ο δακτύλιος προσαρμογής στην κλίμακα μπορεί να είναι από 0.11-.023, στο κέλυφος του αντικειμενικού φακού επισημαίνεται επίσης με αυτόν τον αριθμό, υποδεικνύοντας ότι το γυαλί κάλυψης μπορεί να διορθωθεί από το 0.{ {5}}.23mm πάχος μεταξύ του σφάλματος.
2, με αντικειμενικό διάφραγμα ιριδίζοντος (Irisdiaphragmobjective): στο πάνω μέρος της κάννης του αντικειμενικού φακού εξοπλισμένο με ιριδίζον διάφραγμα, η εξωτερική πλευρά μπορεί επίσης να περιστραφεί για να ρυθμίσει τον δακτύλιο, περιστρέφοντας το μέγεθος του ανοίγματος του διαφράγματος μπορεί να ρυθμιστεί, αυτή η δομή ο αντικειμενικός φακός είναι ένας αντικειμενικός φακός βυθισμένος στο λάδι, ο ρόλος του είναι να ανιχνεύει το σκοτεινό οπτικό πεδίο όταν το φόντο του οπτικού πεδίου δεν είναι αρκετά σκοτεινό, με αποτέλεσμα τη μείωση της ποιότητας του μικροσκοπίου. Αυτή τη στιγμή, προσαρμόστε το μέγεθος του διαφράγματος, έτσι ώστε το φόντο να γίνει πιο σκούρο, ώστε το αντικείμενο προς εξέταση πιο φωτεινό, για να ενισχύσετε το αποτέλεσμα της μικροσκοπίας.
3, αντικειμενικός στόχος αντίθεσης φάσης (Phasecontrastobjective): αυτός ο αντικειμενικός φακός χρησιμοποιείται για ειδικό αντικειμενικό μικροσκόπιο αντίθεσης φάσης, το οποίο χαρακτηρίζεται από το εστιακό επίπεδο του αντικειμενικού φακού είναι εξοπλισμένο με μια πλάκα φάσης.
4, χωρίς αντικειμενικό κάλυμμα (Nocoverobjective): ορισμένα από τα αντικείμενα που εξετάζονται, η κορυφή δεν μπορεί να προστεθεί με καλυπτρίδα, έτσι ώστε στη μικροσκοπική εξέταση πρέπει να χρησιμοποιείται χωρίς αντικειμενικό κάλυμμα, διαφορετικά η ποιότητα της εικόνας θα μειωθεί σημαντικά, ειδικά στο μικροσκόπιο υψηλής μεγέθυνσης είναι πιο εμφανές. Αυτός ο αντικειμενικός φακός είναι συχνά χαραγμένος στο κέλυφος NC, ταυτόχρονα στη θέση του πάχους της καλυπτρίδας χωρίς τη λέξη 0.17, αλλά με χαραγμένο το "0".
5, στόχος μεγάλης απόστασης εργασίας: η εστιακή απόσταση αυτού του αντικειμένου είναι μεγαλύτερη από τον συνηθισμένο στόχο, έχει σχεδιαστεί για να ανταποκρίνεται στο υγρό υλικό (μεταλλογραφία υψηλής θερμοκρασίας), υγρό κρύσταλλο, καλλιέργεια ιστών, εναιώρημα και άλλα υλικά σχεδιασμένα για μικροσκοπία.
