Ταξινόμηση ειδικών αντικειμένων για μεταλλογραφικό μικροσκόπιο
Οι ειδικοί αντικειμενικοί φακοί σχεδιάζονται και κατασκευάζονται ειδικά για την επίτευξη ορισμένων αποτελεσμάτων παρατήρησης, συμπεριλαμβανομένων κυρίως των εξής:
1. Συνεργατικός στόχος διόρθωσης: Ένας δακτύλιος προσαρμογής σε σχήμα δακτυλίου είναι εγκατεστημένος στη μέση του αντικειμενικού φακού. Όταν περιστρέφεται ο δακτύλιος ρύθμισης, η απόσταση μεταξύ των ομάδων φακών μέσα στον αντικειμενικό φακό μπορεί να ρυθμιστεί για να διορθωθεί η διαφορά κάλυψης που προκαλείται από το μη τυπικό πάχος του γυαλιού καλύμματος. Η κλίμακα στον δακτύλιο προσαρμογής μπορεί να κυμαίνεται από 0.11 έως. 023, και αυτός ο αριθμός σημειώνεται επίσης στο εξωτερικό κέλυφος του αντικειμενικού φακού, υποδεικνύοντας ότι το σφάλμα του γυαλιού καλύμματος μπορεί να διορθωθεί από 0.11 έως 0,23 mm πάχος.
2. Αντικειμενικός στόχος διαφράγματος ίριδας: Το πάνω μέρος της κάννης του αντικειμενικού φακού είναι εξοπλισμένο με διάφραγμα ίριδας και η εξωτερική πλευρά μπορεί επίσης να περιστρέψει έναν δακτύλιο ρύθμισης για να προσαρμόσει το μέγεθος του ανοίγματος του διαφράγματος. Αυτός ο τύπος αντικειμενικού φακού είναι αντικειμενικός φακός βυθισμένος σε λάδι, ο οποίος χρησιμοποιείται για τη μείωση της ποιότητας της επιθεώρησης όταν το φόντο του οπτικού πεδίου δεν είναι αρκετά σκοτεινό κατά την επιθεώρηση σκοτεινού πεδίου. Σε αυτό το σημείο, προσαρμόστε το μέγεθος του διαφράγματος για να σκουρύνει το φόντο, να κάνει το αντικείμενο που επιθεωρείται πιο φωτεινό και να ενισχύσει το εφέ επιθεώρησης καθρέφτη.
3. Αντικειμενικός στόχος αντίθεσης φάσης: Αυτός ο τύπος αντικειμενικού φακού είναι ένας εξειδικευμένος αντικειμενικός στόχος που χρησιμοποιείται για τη μικροσκοπία αντίθεσης φάσης, που χαρακτηρίζεται από την παρουσία μιας πλάκας φάσης στο πίσω εστιακό επίπεδο του αντικειμενικού φακού.
4. Αποκάλυψη αντικειμενικού φακού: Ορισμένα αντικείμενα δεν μπορούν να καλυφθούν με γυαλί καλύμματος, επομένως θα πρέπει να χρησιμοποιείται αντικειμενικός φακός αποκάλυψης κατά τη μικροσκοπία, διαφορετικά η ποιότητα της εικόνας θα μειωθεί σημαντικά, ειδικά κατά τη μικροσκοπία υψηλής ισχύος. Το εξωτερικό κέλυφος αυτού του αντικειμενικού φακού επισημαίνεται συχνά με NC και δεν υπάρχει το γράμμα 0.17 στη θέση του πάχους του γυαλιού του καλύμματος, αλλά σημειώνεται με "0".
5. Αντικειμενικός φακός μεγάλης απόστασης εργασίας: Αυτός ο τύπος αντικειμενικού φακού έχει εστιακή απόσταση μεγαλύτερη από τους συνηθισμένους αντικειμενικούς φακούς και έχει σχεδιαστεί για να καλύπτει τις ανάγκες επιθεώρησης υγρών υλικών (μεταλλογραφία υψηλής θερμοκρασίας), υγρών κρυστάλλων, καλλιέργειας ιστών, εναιωρημάτων και άλλων υλικών .
