Τεχνικές παράμετροι ομοεστιακού μικροσκοπίου
1 ανάλυση
Η κατανομή της λειτουργίας σημειακής κατανομής συστήματος του ομοεστιακού μικροσκοπίου είναι ίση με τη συνέλιξη του αντικειμενικού φακού και της κατανομής ενέργειας σημειακής εικόνας. Στην περίπτωση του ίδιου αντικειμενικού φακού, η πλευρική του ανάλυση (επίπεδο xy) είναι 1,4 φορές μεγαλύτερη από αυτή των παραδοσιακών οπτικών μικροσκοπίων, φτάνοντας το 0.4λ/NA. Για παράδειγμα, η ανάλυση του TcS-NT της Leica είναι 0,18 μm. Από την αρχή του ομοεστιακού μικροσκοπίου, γνωρίζουμε ότι η ρύθμιση της οπής καρφίτσας στον ανιχνευτή όχι μόνο καταστέλλει αποτελεσματικά την παρεμβολή της εικόνας του σημείου εκτός εστίασης στην εικόνα επιπέδου ανίχνευσης, αλλά επίσης καταστέλλει την παρεμβολή της μη ανίχνευσης σημείο στο επίπεδο σχεδόν εστίασης στο σημείο ανίχνευσης, το οποίο βελτιώνει σημαντικά την ανάλυση της εικόνας. Επιπλέον, για να επιτευχθεί ακραία ανάλυση, τα συστήματα ομοεστιακού μικροσκοπίου πρέπει να είναι εξοπλισμένα με βαθμίδα αντικραδασμικής προστασίας.
2 Ευαισθησία
Τα παραδοσιακά οπτικά μικροσκόπια είναι συχνά εξοπλισμένα με κάμερες CCD για τη συλλογή εικόνων, αλλά λόγω της σχετικά χαμηλής ευαισθησίας των CCD, δεν μπορεί να ανιχνευθεί φως χαμηλής φωτεινότητας όπως ο φθορισμός, επομένως οι σωλήνες φωτοπολλαπλασιαστή χρησιμοποιούνται γενικά ως στοιχεία ανίχνευσης σε συστήματα ομοεστιακών μικροσκοπίων. Πολύ περισσότερο από το CCD, μπορεί επίσης να δείξει υψηλή ευαισθησία σε ασθενή σήματα φθορισμού.
3 Οριζόντια ανάλυση
Τα συστήματα ομοεστιακής μικροσκοπίας αποκαλύπτουν μεγαλύτερη λεπτομέρεια σε μεγεθυμένες εικόνες από το συμβατικό μικροσκόπιο φωτός. Η μεγέθυνση που αναφέρεται εδώ δεν αναφέρεται σε φυσική μεγέθυνση, αλλά αναφέρεται στις μορφολογικές λεπτομέρειες της εικόνας που εμφανίζεται από το ομοεστιακό μικροσκόπιο κάτω από την ίδια κατάσταση μεγέθυνσης του αντικειμενικού φακού, η οποία είναι δύσκολο να φανεί στο παραδοσιακό οπτικό μικροσκόπιο, επομένως η εικόνα είναι πιο ξεκάθαρο και λεπτό. Η οριζόντια ανάλυση είναι υψηλότερη.
4 Αντίθεση
Δεδομένου ότι το φως φωτισμού αντικειμένου είναι μόνο ένα πολύ μικρό εστιασμένο φωτεινό σημείο στη σάρωση και η αναλογία φωτεινότητας και σήματος προς θόρυβο είναι υψηλή, το φως σήματος είναι ισχυρότερο από άλλα σημεία του αντικειμένου. Στο επίπεδο εικόνας, ο ανιχνευτής σημείων μπορεί να λάβει μόνο φως που περνά μέσα από την οπή καρφίτσας, ενώ το αδέσποτο φως από άλλα μέρη του αντικειμένου φιλτράρεται επειδή δεν μπορεί να εστιαστεί στην ομοεστιακή οπή. Αυτό έχει ως αποτέλεσμα εικόνες υψηλότερης αντίθεσης δειγμάτων που λαμβάνονται με ομοεστιακά μικροσκόπια σάρωσης από τα συμβατικά μικροσκόπια.
