Διαφορές στην εφαρμογή μεταξύ του όρθιου μεταλλουργικού μικροσκοπίου και του ανεστραμμένου μεταλλουργικού μικροσκοπίου
Η διαφορά μεταξύ όρθιου και ανεστραμμένου είναι απλώς ότι το όρθιο δείγμα τοποθετείται κάτω και το ανεστραμμένο δείγμα τοποθετείται παραπάνω. Ο όρθιος αντικειμενικός φακός αντιμετωπίζει προς τα κάτω και ο ανεστραμμένος αντικειμενικός φακός αντιμετωπίζει προς τα πάνω.
Το ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο χρησιμοποιείται συνήθως στα εργοστασιακά εργαστήρια, τα ιδρύματα επιστημονικής έρευνας και τα πανεπιστήμια, επειδή η επιφάνεια παρατήρησης του δείγματος συμπίπτει με την επιφάνεια του τραπεζιού του εργατικού δυναμικού και ο στόχος παρατήρησης βρίσκεται κάτω από το τραπέζι του εργατικού δυναμικού ενώ παρατηρείται προς τα πάνω. Αυτή η μορφή παρατήρησης δεν περιορίζεται από το ύψος του δείγματος και μόνο μία επιφάνεια παρατήρησης είναι επίπεδη κατά την προετοιμασία του δείγματος. Η ανεστραμμένη βάση μεταλλογραφικού μικροσκοπίου έχει μεγάλη περιοχή υποστήριξης, χαμηλό κέντρο βάρους και είναι σταθερό και αξιόπιστο. Ο προσοφθάλφος και η επιφάνεια στήριξης είναι κλίση σε 45 μοίρες για άνετη παρατήρηση.
Το όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο έχει τις ίδιες βασικές λειτουργίες με το ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο. Εκτός από την ανάλυση και την αναγνώριση των δειγμάτων μετάλλων με ύψος 20-30 mm, χρησιμοποιείται ευρύτερα για διαφανείς, ημι -διαφανείς ή αδιαφανείς ουσίες, διότι συμμορφώνεται με τις ανθρώπινες καθημερινές συνήθειες. Το όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο παράγει μια θετική εικόνα κατά τη διάρκεια της παρατήρησης, η οποία διευκολύνει σημαντικά την παρατήρηση και την ταυτοποίηση του χρήστη. Εκτός από την ανάλυση και την αναγνώριση των δειγμάτων μετάλλων με ύψος 20-30 mm, παρατηρώντας στόχους μεγαλύτερους από 3 μικρά και μικρότερα από 20 μικρά, όπως μεταλλικά κεραμικά, ηλεκτρονικά τσιπ, τυπωμένα κυκλώματα, υποστρώματα LCD, μεμβράνες, ίνες, κοκκώδη αντικείμενα, επικαλύψεις και άλλα υλικά, καλές επιδράσεις στις επιφανειακές δομές και ίχνη.
