Πώς να χρησιμοποιήσετε φακούς υψηλής και χαμηλής μεγέθυνσης μεταλλογραφικών μικροσκοπίων
Η χρήση μεταλλογραφικών μικροσκοπίων μπορεί να χωριστεί σε φακούς χαμηλής μεγέθυνσης και σε φακούς υψηλής μεγέθυνσης. Οι λειτουργίες των δύο μικροσκοπίων είναι διαφορετικές, επομένως και οι μέθοδοι που χρησιμοποιούνται είναι διαφορετικές. Το προσωπικό της Shanghai Ranchao Optoelectronics Technology Co., Ltd. που ειδικεύεται στα μικροσκόπια θα σας το παρουσιάσει. Πώς να χρησιμοποιήσετε φακούς υψηλής και χαμηλής μεγέθυνσης μεταλλογραφικού μικροσκοπίου:
1. Χρήση φακών χαμηλής ισχύος
(1) Επιθεώρηση: Κρατήστε τον βραχίονα του καθρέφτη με το δεξί σας χέρι, βγάλτε το μικροσκόπιο από το κουτί του καθρέφτη, κρατήστε τη βάση του καθρέφτη με το αριστερό σας χέρι και τοποθετήστε το απαλά στο πειραματικό τραπέζι. Πρώτα ελέγξτε εάν κάποια μέρη του μικροσκοπίου είναι κατεστραμμένα. Εάν εντοπιστεί οποιαδήποτε ζημιά ή κακή απόδοση, αναφέρετέ το αμέσως.
(2) Προετοιμασία: Τοποθετήστε το μικροσκόπιο ελαφρώς προς τα αριστερά μπροστά και γείρετε την κάννη του φακού για παρατήρηση, εάν χρειάζεται. Περιστρέψτε το κουμπί χονδροειδούς ρύθμισης για να σηκώσετε ελαφρά την κάννη του φακού (ή να χαμηλώσετε τη σκηνή) για να αυξήσετε ελαφρώς την απόσταση μεταξύ του αντικειμενικού φακού και της βάσης. Στη συνέχεια, περιστρέψτε τον μετατροπέα αντικειμενικού φακού και ευθυγραμμίστε τον φακό χαμηλής μεγέθυνσης με την οπή φωτός στο κέντρο της σκηνής (ακούγεται ένας ήχος "κλικ").
(3) Στόχευση του φωτός: Ανοίξτε το διάφραγμα, σηκώστε τον συμπυκνωτή, ανοίξτε και τα δύο μάτια ταυτόχρονα, κοιτάξτε τον προσοφθάλμιο φακό με το αριστερό μάτι και προσαρμόστε την κατεύθυνση του ανακλαστήρα έως ότου το φως στο οπτικό πεδίο είναι φωτεινό και στολή. Ο επίπεδος καθρέφτης του ανακλαστήρα μπορεί εύκολα να φέρει άλλα σκηνικά στο οπτικό πεδίο και ένας κοίλος καθρέφτης χρησιμοποιείται γενικά για την εστίαση του φωτός.
(4) Τοποθετήστε το τεμάχιο δείγματος: Με το κάλυμμα του τεμαχίου δείγματος στραμμένο προς τα επάνω, τοποθετήστε το τεμάχιο δείγματος μπροστά από τη σκηνή, μετά σπρώξτε το κάτω από τον αντικειμενικό φακό και πιέστε το με τον σφιγκτήρα πίεσης. Εάν υπάρχει μηχανισμός κίνησης δείγματος, χρησιμοποιήστε το κλιπ ελατηρίου πάνω του. Κρατήστε το δείγμα και, στη συνέχεια, μετακινήστε το προς παρατήρηση τμήμα στο κέντρο της φωτεινής οπής για παρατήρηση.
(5) Ρυθμίστε την εστιακή απόσταση: Κοιτάξτε τον αντικειμενικό φακό από το πλάι του μικροσκοπίου και ταυτόχρονα περιστρέψτε το κουμπί χονδροειδούς ρύθμισης για να χαμηλώσετε αργά την κάννη του φακού ή να σηκώσετε τη σκηνή. Όταν η απόσταση μεταξύ του φακού χαμηλής μεγέθυνσης και του γυαλιού είναι περίπου 5 mm, χρησιμοποιήστε το αριστερό σας μάτι για να παρατηρήσετε το οπτικό πεδίο μέσω του προσοφθάλμιου φακού. , γυρίστε αργά το κουμπί χονδροειδούς ρύθμισης με το αριστερό σας χέρι για να σηκώσετε αργά την κάννη του φακού μέχρι να εμφανιστεί η εικόνα του αντικειμένου στο οπτικό πεδίο. Εάν η εικόνα του αντικειμένου δεν είναι καθαρή, μπορείτε να περιστρέψετε το κουμπί λεπτής ρύθμισης για να κάνετε την εικόνα του αντικειμένου πιο καθαρή.
Εάν εξακολουθείτε να μην μπορείτε να δείτε την εικόνα του αντικειμένου αφού ακολουθήσετε τα παραπάνω βήματα, μπορεί να οφείλεται στους ακόλουθους λόγους:
① Γυρίστε πολύ γρήγορα το κουμπί ρύθμισης και υπερβείτε την εστίαση. Η εστίαση θα πρέπει να επαναρυθμιστεί όπως περιγράφεται παραπάνω.
②Ο αντικειμενικός φακός δεν είναι ευθυγραμμισμένος. Θα πρέπει να ευθυγραμμιστεί πριν την παρατήρηση.
③ Εάν το δείγμα δεν τοποθετηθεί στο οπτικό πεδίο, το τεμάχιο δείγματος θα πρέπει να μετακινηθεί για να βρεθεί το αντικείμενο παρατήρησης.
④Το φως είναι πολύ δυνατό, ειδικά όταν παρατηρούνται σχετικά διαφανή δείγματα ή μη λεκιασμένα δείγματα, αυτό το φαινόμενο είναι πιθανό να συμβεί. Το φως πρέπει να μειώνεται πριν από την παρατήρηση.
2. Χρήση φακών υψηλής μεγέθυνσης μεταλλογραφικών μικροσκοπίων
(1) Ακολουθήστε τα παραπάνω βήματα και χρησιμοποιήστε πρώτα φακό χαμηλής ισχύος για να βρείτε μια καθαρή εικόνα αντικειμένου.
(2) Μετακινήστε το προς παρατήρηση τμήμα στο κέντρο του οπτικού πεδίου.
(3) Κοιτάξτε τον αντικειμενικό φακό από το πλάι, μετακινήστε τον μετατροπέα με το χέρι και αλλάξτε σε φακό υψηλής ισχύος.
(4) Κοιτάξτε τον προσοφθάλμιο προσοφθάλμιο φακό και γυρίστε το κουμπί λεπτής ρύθμισης ελαφρώς πάνω-κάτω μέχρι να δείτε μια καθαρή εικόνα αντικειμένου στο οπτικό πεδίο.
Εάν εξακολουθείτε να μην μπορείτε να δείτε την εικόνα του αντικειμένου αφού ακολουθήσετε τις παραπάνω λειτουργίες, μπορεί να οφείλεται στους ακόλουθους λόγους:
① Εάν το παρατηρούμενο τμήμα δεν βρίσκεται εντός του οπτικού πεδίου, θα πρέπει να βρεθεί κάτω από έναν φακό χαμηλής ισχύος, στη συνέχεια να μετακινηθεί στο κέντρο του οπτικού πεδίου και στη συνέχεια να παρατηρηθεί με φακό υψηλής ισχύος.
② Εάν το τεμάχιο δείγματος τοποθετηθεί ανάποδα, θα πρέπει να το βάλετε στη σωστή κατεύθυνση και στη συνέχεια να ακολουθήσετε τα παραπάνω βήματα.
③Η εστιακή απόσταση δεν έχει ρυθμιστεί σωστά. Η εστιακή απόσταση πρέπει να ρυθμίζεται προσεκτικά.
Ορισμένα μικροσκόπια δεν ταιριάζουν με τον φακό υψηλής ισχύος με τον φακό χαμηλής ισχύος. Κατά την εναλλαγή από τον φακό χαμηλής κατανάλωσης σε φακό υψηλής ισχύος, το δείγμα συχνά δεν μπορεί να περιστραφεί ή είναι κατεστραμμένο. Εάν συμβεί αυτό, μπορείτε να σηκώσετε ελαφρώς την κάννη του φακού (ή να χαμηλώσετε τη σκηνή). ), ρυθμίστε την εστίαση απευθείας με έναν φακό υψηλής ισχύος. Η μέθοδος χρήσης είναι: κοιτάξτε τον αντικειμενικό φακό από το πλάι, ρυθμίστε το κουμπί χονδρικής ρύθμισης για να φέρετε τον φακό υψηλής ισχύος στη μικρότερη απόσταση από το δείγμα, μετά παρατηρήστε το οπτικό πεδίο του προσοφθάλμιου προσοφθάλμιου φακού, ρυθμίστε αργά το λεπτό κουμπί ρύθμισης και κάντε τον φακό να ανέβει αργά έως ότου η εικόνα του αντικειμένου είναι καθαρή. Εάν πρέπει να αντικαταστήσετε το τεμάχιο δείγματος, θα πρέπει πρώτα να σηκώσετε το σωλήνα του φακού (ή να χαμηλώσετε τη σκηνή), στη συνέχεια να μετακινήσετε το κομμάτι δείγματος στο μπροστινό μέρος της σκηνής και, στη συνέχεια, να το αφαιρέσετε.
