Μέθοδοι απεικόνισης φωτεινού-πεδίου και σκοτεινού-πεδίου σε μικροσκοπία φθορισμού
(1) Μέθοδος απεικόνισης φωτεινού πεδίου (BFI), η οποία επιτρέπει μόνο στη μεταδιδόμενη δέσμη ηλεκτρονίων στην παραξονική περιοχή να περάσει από το αντικειμενικό άνοιγμα, σχηματίζοντας μια σκοτεινή εικόνα σε φωτεινό φόντο. Όσο μικρότερο είναι το διάφραγμα του αντικειμενικού διαφράγματος, τόσο μεγαλύτερη είναι η αντίθεση της εικόνας φωτεινού πεδίου. (2) Η απεικόνιση σκοτεινού πεδίου (DFI) είναι μια τεχνική που επιτρέπει μόνο σε ένα τμήμα της δέσμης με μεγάλη γωνία ή σε μια ορισμένη δέσμη περίθλασης του κρυστάλλου να περάσει από το άνοιγμα του αντικειμενικού ανοίγματος, ενώ εμποδίζει τη μεταδιδόμενη δέσμη. Αυτό σχηματίζει μια φωτεινή γραφική εικόνα σε σκούρο φόντο. Αυτή η μέθοδος απεικόνισης σκοτεινού πεδίου μπορεί να βελτιώσει την αντίθεση των εικόνων και είναι μια σημαντική τεχνική απεικόνισης.
Υπάρχουν περίπου τέσσερις μέθοδοι για την επίτευξη εικόνων σκοτεινού πεδίου χρησιμοποιώντας μικροσκόπια φθορισμού Leica: (1) διατήρηση του κατακόρυφου φωτισμού κατά μήκος του οπτικού άξονα ενώ μετακινείται το άνοιγμα του αντικειμενικού ανοίγματος. (2) Η χρήση λοξού φωτισμού για τη λήψη διάσπαρτων ακτίνων προς την κατεύθυνση του οπτικού άξονα ονομάζεται Κεντρική Απεικόνιση Σκοτεινού Πεδίου (CDFI). (3) Ένα αντικειμενικό άνοιγμα με κεντρικό αναστολέα δέσμης και κυκλική διαφανή περιοχή. (4) Χρησιμοποιήστε έναν κυκλικό διαφανή συμπυκνωτή φακό για την αίσθηση φωτός και ένα κεντρικό κυκλικό άνοιγμα για τον αντικειμενικό φακό. Η μέθοδος * εδώ είναι η πιο απλή, αλλά χρησιμοποιεί ηλεκτρονική απεικόνιση στην περιοχή του περιφερικού χιτωνίου, επομένως η εκτροπή είναι μεγάλη και η ποιότητα της εικόνας δεν είναι πολύ καλή. Η δεύτερη μέθοδος μπορεί να αποφύγει τα παραπάνω μειονεκτήματα, αλλά το αντικειμενικό άνοιγμα του μικροσκοπίου φθορισμού Leica δέχεται μόνο ένα μικρό μέρος σκεδαζόμενων ηλεκτρονίων με διάθλαση, με αποτέλεσμα χαμηλότερη απόδοση. Η πλευρά του διαφράγματος συχνά υποβάλλεται σε μεγάλο βομβαρδισμό ηλεκτρονίων, ο οποίος μπορεί εύκολα να προκαλέσει ασύμμετρη μόλυνση και να επηρεάσει την ποιότητα της εικόνας. Ο δακτυλιοειδής αντικειμενικός φακός έχει βελτιωθεί σε αυτή την όψη, αλλά το μειονέκτημα είναι ότι είναι δύσκολο να παραχθεί και είναι δύσκολο να επιτευχθεί πλήρης αξονική συμμετρία. Δεδομένων των σχετικά χαλαρών απαιτήσεων για το σύστημα φωτισμού, μπορεί να υιοθετηθεί η τελευταία λύση, η οποία περιλαμβάνει την προσθήκη ενός δακτυλιοειδούς ανοίγματος στον συμπυκνωτή για την παροχή φωτισμού κοίλης δέσμης για το δείγμα. Η επίδραση αυτής της συσκευής. Η ανάλυση εικόνας του μπορεί να είναι κοντά σε αυτή των εικόνων με φωτεινό πεδίο, ενώ η αντίθεση βελτιώνεται σημαντικά.
