Μέθοδος ρύθμισης μεταλλογραφικού μικροσκοπίου,
Το μεταλλογραφικό μικροσκόπιο είναι ένας τέλειος συνδυασμός τεχνολογίας οπτικού μικροσκοπίου, τεχνολογίας φωτοηλεκτρικής μετατροπής και τεχνολογίας επεξεργασίας εικόνας υπολογιστή για να εξελιχθεί σε προϊόν υψηλής τεχνολογίας, το οποίο μπορεί εύκολα να παρατηρήσει μεταλλογραφικές εικόνες με υπολογιστές και μεταλλογραφικούς άτλαντες, αξιολογήσεις, γραφικά εξόδου, εκτύπωση κ.λπ. Όπως όλοι γνωρίζουμε, η σύνθεση του κράματος, η θερμική επεξεργασία...
Το μεταλλογραφικό μικροσκόπιο είναι ένας τέλειος συνδυασμός τεχνολογίας οπτικού μικροσκοπίου, τεχνολογίας φωτοηλεκτρικής μετατροπής και τεχνολογίας επεξεργασίας εικόνας υπολογιστή για να εξελιχθεί σε προϊόν υψηλής τεχνολογίας, το οποίο μπορεί εύκολα να παρατηρήσει μεταλλογραφικές εικόνες με υπολογιστές και μεταλλογραφικούς άτλαντες, αξιολογήσεις, γραφικά εξόδου, εκτύπωση κ.λπ. Όπως όλοι γνωρίζουμε, η σύνθεση του κράματος, η θερμική επεξεργασία και η τεχνολογία θερμής και ψυχρής επεξεργασίας επηρεάζουν άμεσα την αλλαγή της δομής του εσωτερικού μηχανισμού του μεταλλικού υλικού, έτσι ώστε να αλλάζουν οι μηχανικές ιδιότητες του εξαρτήματος. Ως εκ τούτου, έχει γίνει σημαντικό μέσο βιομηχανικής παραγωγής η παρατήρηση και η επιθεώρηση της δομής του εσωτερικού μηχανισμού του μετάλλου με ανάλυση μεταλλογραφικού μικροσκοπίου. Ποια είναι λοιπόν η μέθοδος ρύθμισης και χρήσης του μεταλλογραφικού μικροσκοπίου; Ο ακόλουθος συντάκτης θα σας το παρουσιάσει.
Μέθοδος ρύθμισης μεταλλογραφικού μικροσκοπίου:
1. 10x αντικειμενική προσαρμογή
Στη διαδικασία εφαρμογής του μεταλλογραφικού μικροσκοπίου, ο αντικειμενικός φακός 10x είναι ο τυπικός κοινός αντικειμενικός φακός στην εργασία εστίασης. Αρχικά, είναι από έναν αντικειμενικό φακό 10x σε έναν αντικειμενικό φακό χαμηλότερης μεγέθυνσης ή, αλλάζοντας από έναν αντικειμενικό φακό 10x σε έναν αντικειμενικό φακό μεγαλύτερης μεγέθυνσης, δεν θα υπάρξει καμία δραστική αλλαγή. Ένα άλλο σημείο είναι ότι το βάθος εστίασης του αντικειμενικού φακού χαμηλότερης μεγέθυνσης είναι μεγάλο και η γυμνή όραση του παρατηρητή δεν βρίσκεται στο κέντρο κατά βούληση και η επαφή μεταξύ του δείγματος και του φακού μπορεί να συμβεί εύκολα κατά την απευθείας μετάβαση στον αντικειμενικό φακό υψηλής μεγέθυνσης φακός.
Ο αντικειμενικός φακός 10x δεν είναι μόνο ένας τυπικός κοινός αντικειμενικός φακός στην εργασία εστίασης, αλλά περιλαμβάνει επίσης πολλά στην πρακτική εργασία. Για παράδειγμα, σε πολλά σχετικά εθνικά πρότυπα για μεταλλογραφική επιθεώρηση, είναι η πιο κοινή σύγκριση τυπικών φασμάτων αναφοράς υπό την προϋπόθεση της παρατήρησης 100 φορές και η απόκτηση 100 φορές προέρχεται από 10 φορές αντικειμενικό φακό και 10 φορές προσοφθάλμιο. Ξεκινώντας από τον θεωρητικό έλεγχο, εφόσον δεν είναι τυχαίος ή κακόβουλος, η επακόλουθη ενέργεια ελέγχου θα πρέπει να είναι να γίνει ο αντικειμενικός φακός κοντά στο εστιακό επίπεδο. Υπό την προϋπόθεση του αντικειμενικού φακού 10x, αφού το δείγμα τοποθετηθεί σωστά, θα πρέπει να υπάρχει μια θολή εικόνα ή ακόμα και μια σχετικά καθαρή εικόνα. , λίγη συντήρηση και τελειοποίηση.
2. Σχετική είσοδος και έξοδος
Σχετικά με το θέμα της εστίασης μετά τη μετάβαση από έναν αντικειμενικό φακό χαμηλής μεγέθυνσης σε έναν αντικειμενικό φακό υψηλής μεγέθυνσης, λόγω της βελτίωσης της τρέχουσας διαδικασίας κατασκευής μικροσκοπίου, η εστιακή απόδοση διαφορετικών αντικειμενικών φακών μικροσκοπίου είναι σχετικά καλή, ειδικά για προϊόντα του εξωτερικού. Κατά την παρατήρηση, μερικές φορές δεν χρειάζεται να εστιάσετε ξανά. Η εικόνα είναι ήδη πολύ καθαρή. ίσως, απλώς αυξήστε ελαφρώς την απόσταση του αντικειμένου και ο βαθμός προσαρμογής δεν είναι σίγουρα η έννοια των 1~3 κύκλων, δηλαδή η έννοια των 1~3 μοιρών (γωνία), η οποία είναι εξαιρετικά περίπλοκη. ποσότητα.
3. Σχετικά με τον μετατροπέα αντικειμενικού φακού
Κατά την αλλαγή του αντικειμενικού φακού, μην πιέζετε τον αντικειμενικό φακό απευθείας με το χέρι, διαφορετικά είναι εύκολο να χαλαρώσετε το σπείρωμα της βίδας του ισχυρού αντικειμενικού φακού και να γείρετε τον οπτικό άξονα. Ο αντικειμενικός φακός του μικροσκοπίου και το σύστημα μικροσκοπικής ψηφιακής κάμερας βιδώνονται στον μετατροπέα αντικειμενικού φακού. Όταν αλλάζετε διαφορετικούς αντικειμενικούς φακούς, αλλάξτε τον μετατροπέα αντικειμενικού φακού μέχρι τα αυτιά να ακούσουν έναν ελαφρύ ήχο «κλικ» και να νιώσετε την αντίσταση να αυξάνεται απότομα. Αυτή τη στιγμή, ο αντικειμενικός φακός βρίσκεται στην κανονική θέση εργασίας: κάθετα στο επίπεδο της σκηνής.
Το παραπάνω περιεχόμενο αποτελεί εισαγωγή στη ρύθμιση και χρήση των μεταλλογραφικών μικροσκοπίων. Τα μεταλλογραφικά μικροσκόπια χρησιμοποιούνται ειδικά για την παρατήρηση αδιαφανών αντικειμένων όπως μέταλλα και ορυκτά. Αυτά τα αδιαφανή αντικείμενα δεν μπορούν να παρατηρηθούν σε συνηθισμένα μικροσκόπια εκπεμπόμενου φωτός. Η κύρια διαφορά μεταξύ των μεταλλογραφικών μικροσκοπίων και των συνηθισμένων μικροσκοπίων είναι ότι το πρώτο φωτίζεται με ανακλώμενο φως, ενώ το δεύτερο φωτίζεται με εκπεμπόμενο φως. Σε ένα μεταλλογραφικό μικροσκόπιο, η δέσμη φωτισμού προβάλλεται από την κατεύθυνση του αντικειμενικού φακού προς την επιφάνεια του αντικειμένου που πρόκειται να παρατηρηθεί, ανακλάται από την επιφάνεια του αντικειμένου και στη συνέχεια επιστρέφει στον αντικειμενικό φακό για απεικόνιση. Αυτή η μέθοδος ανακλώμενου φωτισμού χρησιμοποιείται επίσης ευρέως στην ανίχνευση πλακών πυριτίου ολοκληρωμένου κυκλώματος.
