Βήματα μεθόδου με χρήση μικροσκοπίου
1. Κατά τη διάρκεια του πειράματος, τοποθετήστε το μικροσκόπιο στην επιφάνεια εργασίας και το κάθισμα του καθρέφτη πρέπει να απέχει περίπου 6 ~ 7 cm από την άκρη του τραπεζιού. Ενεργοποιήστε τον κάτω διακόπτη πηγής φωτός.
2. Γυρίστε τον μετατροπέα έτσι ώστε ο φακός χαμηλής κατανάλωσης να κοιτάζει την οπή φωτός στη σκηνή. Στη συνέχεια, κοιτάξτε τον προσοφθάλμιο φακό και με τα δύο μάτια, ρυθμίστε την ένταση της πηγής φωτός, σηκώστε τον συμπυκνωτή και ρυθμίστε το άνοιγμα της ίριδας στο μέγιστο, έτσι ώστε το φως να μπορεί να αντανακλάται στον καθρέφτη. Αυτή τη στιγμή, το οπτικό πεδίο είναι φωτεινό.
3. Τοποθετήστε το φορτωμένο κομμάτι που πρέπει να παρατηρήσετε στη σκηνή, έτσι ώστε το παρατηρούμενο τμήμα να βρίσκεται στο κέντρο της οπής διέλευσης φωτός.
4. Παρατηρήστε πρώτα με φακό χαμηλής ισχύος (αντικειμενικός φακός 10×, προσοφθάλμιος φακός 10×). Πριν από την παρατήρηση, περιστρέψτε τη χονδροειδή βίδα οιονεί εστίασης για να ανυψωθεί η σκηνή και να κάνετε τον αντικειμενικό φακό να πλησιάσει σταδιακά τη φέτα. Θα πρέπει να σημειωθεί ότι ο αντικειμενικός φακός δεν πρέπει να αγγίζει τη γυάλινη ολίσθηση για να αποτρέψει τον φακό να συνθλίψει τη γυάλινη ολίσθηση. Και περιστρέψτε τη χοντρή βίδα σχεδόν εστίασης για να κάνετε τη σκηνή να κατεβαίνει αργά και σύντομα μπορείτε να δείτε τη μεγεθυμένη εικόνα αντικειμένου του υλικού στο γυαλί.
5. Εάν η εικόνα αντικειμένου που εμφανίζεται στο οπτικό πεδίο δεν πληροί τις πειραματικές απαιτήσεις (η εικόνα του αντικειμένου αποκλίνει από το οπτικό πεδίο), μπορείτε να μετακινήσετε αργά τον αριστερό και τον δεξιό κινούμενο χάρακα. Κατά την κίνηση, θα πρέπει να σημειωθεί ότι η κατεύθυνση κίνησης της διαφάνειας είναι ακριβώς αντίθετη από την κατεύθυνση κίνησης της εικόνας του αντικειμένου που φαίνεται στο οπτικό πεδίο. Εάν η εικόνα του αντικειμένου δεν είναι καθαρή, η βίδα λεπτής εστίασης μπορεί να ρυθμιστεί μέχρι να γίνει καθαρή η εικόνα του αντικειμένου.
6. Εάν ο αντικειμενικός φακός υψηλής ισχύος χρησιμοποιείται περαιτέρω για παρατήρηση, το τμήμα της εικόνας του αντικειμένου που πρέπει να μεγεθυνθεί για παρατήρηση θα πρέπει να μετακινηθεί στο κέντρο του οπτικού πεδίου πριν από την αλλαγή του αντικειμενικού φακού υψηλής ισχύος (όταν ο αντικειμενικός φακός χαμηλής ισχύος αλλάζει σε αντικειμενικό φακό υψηλής ισχύος για παρατήρηση, το εύρος της εικόνας του αντικειμένου στο οπτικό πεδίο είναι πολύ μειωμένο). Γενικά, σε ένα μικροσκόπιο με κανονική λειτουργία, ο αντικειμενικός φακός χαμηλής ισχύος και ο αντικειμενικός φακός υψηλής ισχύος είναι βασικά στο επίκεντρο. Όταν ο αντικειμενικός φακός χαμηλής ισχύος χρησιμοποιείται για καθαρή παρατήρηση, ο αντικειμενικός φακός υψηλής ισχύος θα πρέπει να μπορεί να δει την εικόνα του αντικειμένου, αλλά η εικόνα του αντικειμένου δεν είναι απαραίτητα καθαρή, επομένως μπορεί να ρυθμιστεί περιστρέφοντας τη λεπτή βίδα εστίασης.
7. Αφού αλλάξετε τον αντικειμενικό φακό υψηλής ισχύος και δείτε το αντικείμενο καθαρά, μπορείτε να προσαρμόσετε το διάφραγμα ή τον συμπυκνωτή όπως χρειάζεται, ώστε το φως να πληροί τις απαιτήσεις. Όταν αλλάζετε τον αντικειμενικό φακό χαμηλής ισχύος σε αντικειμενικό φακό υψηλής ισχύος για παρατήρηση, το οπτικό πεδίο θα είναι ελαφρώς πιο σκούρο, επομένως πρέπει να ρυθμίσετε την ένταση του φωτός).
8. Μετά την παρατήρηση, πρέπει πρώτα να αφαιρεθεί ο αντικειμενικός φακός από την οπή φωτός και μετά να αποκατασταθεί το μικροσκόπιο. Και ελέγξτε εάν τα εξαρτήματα έχουν υποστεί ζημιά (δώστε ιδιαίτερη προσοχή για να ελέγξετε εάν ο αντικειμενικός φακός είναι λερωμένος με νερό, εάν είναι λερωμένος με νερό, σκουπίστε τον με χαρτί φακού) και τοποθετήστε τον ξανά στην αρχική του θέση μετά από έλεγχο.
