Ανάλυση οπτικής βλάβης μικροσκοπίου
Οι μικροσκοπικές διπλές εικόνες δεν συμπίπτουν. Στην παρατήρηση των διόφθαλμων προσοφθάλμιων προσοφθάλμιων φακών, μερικές φορές θα υπάρχει φαινόμενο διπλής κακής ευθυγράμμισης εικόνας. Η εμφάνιση διπλής λανθασμένης ευθυγράμμισης εικόνας δεν ενδιαφέρεται για την ασυνεπή αντιστάθμιση του μήκους των δύο κυλινδρικών φακών. Η μεγέθυνση των δύο προσοφθάλμιων προσοφθάλμιων φακών είναι αρκετά διαφορετική και η δόνηση κατά τη χρήση ή τη μεταφορά προκαλεί διόφθαλμη βλάβη. Η θέση του πρίσματος μετατοπίζεται για τρεις λόγους. Για τους δύο πρώτους λόγους, έχουν βαθμονομηθεί και ταιριάξει κατά την έξοδο από το εργοστάσιο και μπορούν να λυθούν αρκεί να προσέξετε τη μέθοδο και το ταίριασμα κατά τη χρήση.
Ο τρίτος λόγος για το μικροσκόπιο είναι πιο συνηθισμένος. Αυτή τη στιγμή, το κέλυφος διόφθαλμου θα πρέπει να ανοίξει, ένας σταυρός χάρακας θα πρέπει να τοποθετηθεί στην πλατφόρμα και θα πρέπει να εισαχθούν προσοφθάλμιοι προσοφθάλμιοι 10Χ στην αριστερή και δεξιά κάννη του φακού για παρατήρηση και να διορθωθεί η θέση και η γωνία του διοπτρικού πρίσματος. . , και όταν οι διόφθαλμοι προσοφθάλμιοι περιστρέφονται για να παρατηρηθούν σε διαφορετικές γωνίες, οι θέσεις των εγκάρσιων σημαδιών βρίσκονται στην ίδια θέση με το οπτικό πεδίο του αριστερού και του δεξιού προσοφθάλμιου φακού και, στη συνέχεια, σφίξτε τους.
Όταν το μικροσκόπιο διόφθαλμη παρατήρηση, μερικές φορές θα υπάρχουν ασυνέπειες στη φωτεινότητα και το χρώμα του αριστερού και δεξιού οπτικού πεδίου, που θα επηρεάσει την παρατήρηση. Αυτό προκαλείται από τη ζημιά του φιλμ σχισίματος του πρίσματος σχισίματος δέσμης. Αυτή τη στιγμή, το πρίσμα διάσπασης δέσμης θα πρέπει να αφαιρεθεί και να σταλεί στον κατασκευαστή του μικροσκοπίου για εκ νέου επίστρωση πριν από τη συναρμολόγηση και τη χρήση. .
Η διαφορά μεταξύ της εφαρμογής του όρθου μεταλλογραφικού μικροσκοπίου και του ανεστραμμένου μεταλλογραφικού μικροσκοπίου
Αντεστραμμένο μεταλλουργικό μικροσκόπιο, καθώς η επιφάνεια παρατήρησης του δείγματος συμπίπτει με την επιφάνεια του πάγκου εργασίας προς τα κάτω, ο αντικειμενικός φακός παρατήρησης βρίσκεται κάτω από τον πάγκο εργασίας και παρατηρείται προς τα πάνω, αυτή η μορφή παρατήρησης δεν περιορίζεται από το ύψος του δείγματος, εφόσον ένα Η επιφάνεια παρατήρησης είναι επίπεδη κατά την προετοιμασία του δείγματος Ως εκ τούτου, χρησιμοποιείται ευρέως σε εργαστήρια εργοστασίων, επιστημονικά ερευνητικά ιδρύματα και κολέγια. Η βάση του ανεστραμμένου μεταλλογραφικού μικροσκοπίου έχει μεγάλη περιοχή στήριξης, χαμηλό κέντρο βάρους, σταθερή και αξιόπιστη λειτουργία και ο προσοφθάλμιος φακός και η επιφάνεια στήριξης έχουν κλίση 45 μοιρών, κάνοντας την παρατήρηση άνετη.
Το όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο έχει τις ίδιες βασικές λειτουργίες με το ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο, εκτός από την ανάλυση και την αναγνώριση μεταλλικών δειγμάτων με ύψος 20-30mm, επειδή συμμορφώνεται με τις καθημερινές συνήθειες των ανθρώπων, χρησιμοποιείται ευρύτερα σε διαφανή , ημιδιαφανής ή αδιαφανής ουσία. Το όρθιο μεταλλουργικό μικροσκόπιο σχηματίζει μια θετική εικόνα κατά την παρατήρηση, η οποία φέρνει μεγάλη ευκολία στην παρατήρηση και την αναγνώριση του χρήστη. Εκτός από την ανάλυση και την αναγνώριση δειγμάτων μετάλλων με ύψος 20-30mm, στόχοι παρατήρησης μεγαλύτεροι από 3 μικρά και λιγότερο από 20 μικρά, όπως κεραμίδια, ηλεκτρονικά τσιπ, τυπωμένα κυκλώματα, υποστρώματα LCD, φιλμ, ίνες, κοκκώδη αντικείμενα, επιστρώσεις και άλλα υλικά στην επιφάνεια Η δομή και τα ίχνη μπορούν να έχουν καλό αποτέλεσμα απεικόνισης.
