Προ εξέταση και ρύθμιση μικροσκοπίου φθορισμού:
(1) Πριν από κάθε παρατήρηση φθορισμού, είναι απαραίτητο να ελέγχετε τακτικά την ευθυγράμμιση του νήματος, την εστίαση της οπτικής διαδρομής, το διάφραγμα διαφράγματος και τις ρυθμίσεις διαφράγματος οπτικού πεδίου της συσκευής φθορισμού.
(2) Εάν τα απαιτούμενα εξαρτήματα φίλτρου διέγερσης/εκπομπής φθορισμού είναι εγκατεστημένα στον μετατροπέα, εάν ο αντικειμενικός φακός μικροσκοπίου φθορισμού έχει διαμορφωθεί σωστά και εάν έχουν αφαιρεθεί οι λεκέδες λαδιού και η σκόνη μπροστά από τον αντικειμενικό φακό.
(3) Ομοίως, κατά την παρατήρηση της διαφοράς στο εκπεμπόμενο φως, είναι απαραίτητο να ελέγξετε τη σύζευξη του φακού εστίασης στο κέντρο και του δακτυλίου αντίθεσης με τον αντικειμενικό φακό.
(4) Ελέγξτε εάν υπάρχει υγρό ή σκόνη που κρέμεται στο φορέα δείγματος (γυάλινη διαφάνεια, γυαλί καλύμματος και άλλα δοχεία) και εάν το πάχος είναι εντός του εύρους απόστασης εργασίας που βαθμονομείται από τον αντικειμενικό φακό. Τα κομμένα δείγματα δεν πρέπει να είναι πολύ παχιά, συνιστάται περίπου μικρότερο ή ίσο με 10 μ m.
(5) Λόγω της παρουσίας υπεριωδών ακτίνων στην πηγή φωτισμού, θα πρέπει να τοποθετηθεί ένα καφέ σκίαστρο πάνω από την πλατφόρμα φόρτωσης για να αποφευχθεί η βλάβη από την υπεριώδη ακτινοβολία στον αμφιβληστροειδή.
(6) Η ασταθής τάση μπορεί να μειώσει τη διάρκεια ζωής των λαμπτήρων υδραργύρου υψηλής τάσης και θα πρέπει να προστεθεί ένας ρυθμιστής τάσης στην τροφοδοσία της πηγής φωτός.
(7) Για να παραταθεί η διάρκεια ζωής της λάμπας υδραργύρου, μπορεί να σβήσει μόνο 15 λεπτά μετά την ενεργοποίησή της. Μόλις απενεργοποιηθεί η τροφοδοσία φθορισμού της λάμπας υδραργύρου, πρέπει να περιμένει τουλάχιστον 10 λεπτά για να κρυώσει οι ατμοί υδραργύρου στην αρχική τους κατάσταση κατά την επανεκκίνηση, διαφορετικά θα επηρεάσει τη διάρκεια ζωής της λάμπας.
Παρατήρηση εικόνων μικροσκοπίου φθορισμού:
(1) Μετά την ενεργοποίηση της πηγής λαμπτήρα φθορισμού για περίπου 5-10 λεπτά, η ένταση διέγερσης τείνει να σταθεροποιηθεί και το δείγμα φορτώνεται για παρατήρηση. Για να αποφευχθεί η υπερβολική διέγερση του φωτός κατά την εστίαση και την αναζήτηση εικόνων από το να προκαλέσει σβήσιμο φθορισμού του δείγματος, πρώτα μειώνεται το άνοιγμα του μικροσκοπίου φθορισμού ή προστίθεται ένα φίλτρο ND για να ρυθμιστεί η διέγερση σε μέτρια ένταση και το στάδιο του δείγματος μετακινείται τακτικά. Μετά τον προσδιορισμό της κατοπτρικής εικόνας, προσαρμόζεται στην κατάσταση φθορισμού για εγγραφή.
(2) Ρυθμίσεις με κακή ποιότητα εικόνας. Τα απαραίτητα μέτρα προσαρμογής που μπορούν να ληφθούν, εξαιρουμένων των παραγόντων προετοιμασίας του δείγματος, είναι:
① Εξαιρέστε συσκευές σκίασης ή περιορισμού στην οπτική διαδρομή απεικόνισης, όπως αξεσουάρ DIC, φίλτρα ND κ.λπ.
② Προσαρμόστε ξανά το άνοιγμα εστίασης και διαφράγματος του συλλέκτη του μικροσκοπίου φθορισμού.
③ Ρυθμίστε προσεκτικά τον δακτύλιο διόρθωσης κάλυψης του αντικειμενικού μικροσκοπίου φθορισμού.
