Γιατί η ανάλυση ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου είναι τόσο μεγαλύτερη από αυτή ενός οπτικού μικροσκοπίου;
Επειδή τα ηλεκτρονικά μικροσκόπια χρησιμοποιούν δέσμες ηλεκτρονίων και τα οπτικά μικροσκόπια χρησιμοποιούν ορατό φως και τα μήκη κύματος των δεσμών ηλεκτρονίων είναι μικρότερα από αυτά του ορατού φωτός, τα ηλεκτρονικά μικροσκόπια έχουν πολύ υψηλότερη ανάλυση από τα οπτικά μικροσκόπια.
Η ανάλυση ενός μικροσκοπίου σχετίζεται με τη γωνία κώνου και το μήκος κύματος της δέσμης ηλεκτρονίων που διέρχεται από το δείγμα.
Το μήκος κύματος του ορατού φωτός είναι περίπου 300 έως 700 νανόμετρα, ενώ το μήκος κύματος της δέσμης ηλεκτρονίων σχετίζεται με την τάση επιτάχυνσης. Σύμφωνα με την αρχή της δυαδικότητας κύματος-σωματιδίου, το μήκος κύματος των ηλεκτρονίων υψηλής ταχύτητας είναι μικρότερο από αυτό του ορατού φωτός και η ανάλυση του μικροσκοπίου περιορίζεται από το μήκος κύματος που χρησιμοποιεί, επομένως η ανάλυση των ηλεκτρονίων μικροσκοπίων (0,2 νανόμετρα) είναι πολύ υψηλότερο από αυτό των οπτικών μικροσκοπίων. (200 nm).
Η εφαρμογή της τεχνολογίας ηλεκτρονικού μικροσκοπίου βασίζεται στη βάση του οπτικού μικροσκοπίου. Η ανάλυση του οπτικού μικροσκοπίου είναι {{0}},2μm και η ανάλυση του ηλεκτρονικού μικροσκοπίου μετάδοσης είναι 0,2nm. φορές.
Αν και η ανάλυση ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου είναι πολύ υψηλότερη από αυτή ενός οπτικού μικροσκοπίου, έχει ορισμένα μειονεκτήματα:
1. Σε ένα ηλεκτρονικό μικροσκόπιο, το δείγμα πρέπει να παρατηρηθεί σε κενό, επομένως δεν μπορούν να παρατηρηθούν ζωντανά δείγματα. Με την πρόοδο της τεχνολογίας, τα ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης περιβάλλοντος θα συνειδητοποιήσουν σταδιακά την άμεση παρατήρηση ζωντανών δειγμάτων.
2. Κατά την επεξεργασία του δείγματος, μπορεί να παράγει δομές που το δείγμα δεν έχει, γεγονός που επιδεινώνει τη δυσκολία ανάλυσης της εικόνας στη συνέχεια.
3. Λόγω της ισχυρής ικανότητας σκέδασης ηλεκτρονίων, είναι επιρρεπής σε δευτερογενή περίθλαση κ.λπ.
4. Επειδή πρόκειται για μια δισδιάστατη επίπεδη εικόνα προβολής ενός τρισδιάστατου αντικειμένου, μερικές φορές η εικόνα δεν είναι μοναδική.
5. Δεδομένου ότι το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο μετάδοσης μπορεί να παρατηρήσει μόνο πολύ λεπτά δείγματα, είναι πιθανό η δομή της επιφάνειας του υλικού να είναι διαφορετική από τη δομή του εσωτερικού του υλικού.
6. Για εξαιρετικά λεπτά δείγματα (κάτω από 100 νανόμετρα), η διαδικασία προετοιμασίας του δείγματος είναι περίπλοκη και δύσκολη και η προετοιμασία του δείγματος είναι κατεστραμμένη.
7. Η δέσμη ηλεκτρονίων μπορεί να καταστρέψει το δείγμα λόγω σύγκρουσης και θέρμανσης.
8. Η τιμή αγοράς και συντήρησης ηλεκτρονικού μικροσκοπίου είναι σχετικά υψηλή.
