Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης σε συνδυασμό με τεχνική ανεστραμμένου οπτικού μικροσκοπίου
Η τεχνολογία σύζευξης ανεστραμμένου οπτικού μικροσκοπίου FlexAFM είναι διαθέσιμη σε όλους τους πελάτες που ενδιαφέρονται για τη δυνατότητα συνδυασμού οπτικού μικροσκοπίου και μικροσκοπίου ατομικής δύναμης. Το σύστημα αποτελείται από μια γενική βαθμίδα δείγματος ανεστραμμένου οπτικού μικροσκοπίου FlexAFM, έναν προσαρμογέα δείγματος ειδικά για το μικροσκόπιο για διαφορετικά μικροσκόπια (π.χ. Zeiss ή Olympus) και οπτικά διόρθωσης φωτισμού FlexAFM.
Τα κύρια χαρακτηριστικά της Μικροσκοπίας Ατομικής Δύναμης σε συνδυασμό με την τεχνική Αντεστραμμένης Οπτικής Μικροσκοπίας είναι:
- Προσαρμογείς σύνδεσης για μικροσκόπια της σειράς Zeiss Axiovert/AxioObserver, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti και Leica DMI. Άλλα μοντέλα ανεστραμμένων οπτικών μικροσκοπίων μπορούν να προσαρμοστούν ώστε να ταιριάζουν στο μοντέλο.
-Διαισθητική λειτουργία λόγω του γεγονότος ότι το οπτικό πεδίο του AFI και το ανεστραμμένο οπτικό μικροσκόπιο έχουν τον ίδιο προσανατολισμό.
-Η ευθυγράμμιση του πρόβολου βραχίονα στο οπτικό πεδίο επιτυγχάνεται με την ανεξάρτητη κίνηση της κεφαλής σάρωσης AFM στις κατευθύνσεις Χ και Υ, με τον άξονα σάρωσης AFM και τον άξονα οπτικής εικόνας να έχουν παράλληλη απόσταση 1mm.
-Η τεχνολογία τσιπ ευθυγράμμισης εξαλείφει την ανάγκη εκτέλεσης νέας ευθυγράμμισης βραχίονα προβόλου στην οπτική εικόνα μετά την αντικατάσταση του βραχίονα προβόλου.
-Η τοποθέτηση του δείγματος έχει διαδρομή 12 mm προς τις κατευθύνσεις X και Y.
- Οι θήκες δειγμάτων μπορούν να προσαρμοστούν σε φύλλα μεταφοράς μικροσκοπίου και τρυβλία Petri.
-Δυνατότητα χρήσης φακών υψηλού αριθμητικού διαφράγματος σε συνδυασμό με πιάτα Petri κάτω από καλυπτρίδα.
Αντεστραμμένη μονάδα οπτικού μικροσκοπίου: Το easyScan 2FlexAFM AFM είναι ενσωματωμένο σε ένα ανεστραμμένο οπτικό μικροσκόπιο Zeiss ενώ βρίσκεται σε μια ενεργή βαθμίδα απόσβεσης κραδασμών Accurion.
