Μικροσκόπια Nikon: Πρωτόκολλο οπτικής συντήρησης πέντε{0}}βημάτων
Αρχικά προήλθε από τη μεταλλογραφία, ο κύριος σκοπός του είναι ως επαγγελματικό όργανο για την παρατήρηση μεταλλογραφικών δομών. Είναι ένα μικροσκόπιο ειδικά σχεδιασμένο για την παρατήρηση των μεταλλογραφικών δομών αδιαφανών αντικειμένων όπως μέταλλα και ορυκτά. Αυτά τα αδιαφανή αντικείμενα δεν μπορούν να παρατηρηθούν σε ένα κανονικό μικροσκόπιο φωτός μετάδοσης, επομένως η κύρια διαφορά μεταξύ χρυσού και κανονικού μικροσκοπίου είναι ότι το πρώτο φωτίζεται από το ανακλώμενο φως, ενώ το δεύτερο από το εκπεμπόμενο φως.
Τα μεταλλογραφικά μικροσκόπια έχουν τα χαρακτηριστικά της καλής σταθερότητας, της καθαρής απεικόνισης, της υψηλής ανάλυσης και του μεγάλου και επίπεδου οπτικού πεδίου. Δεν μπορεί μόνο να πραγματοποιήσει μικροσκοπική παρατήρηση στον προσοφθάλμιο προσοφθάλμιο, αλλά και να παρατηρήσει δυναμικές εικόνες σε πραγματικό χρόνο στην οθόνη εμφάνισης του υπολογιστή (ψηφιακή κάμερα) και μπορεί να επεξεργαστεί, να αποθηκεύσει και να εκτυπώσει τις απαιτούμενες εικόνες. Χρησιμοποιείται κυρίως σε υλικό, τεμαχισμό, εξαρτήματα IC, LCD/LED και άλλα πεδία.
Επειδή υπάρχουν πέντε τύποι φακών μεταλλογραφικού μικροσκοπίου: Φθορισμός φωτεινού πεδίου EPI. BD φωτεινό και σκοτεινό πεδίο. SLWD εξαιρετικά μεγάλη απόσταση εργασίας. Το ELWD ενισχύει την απόσταση εργασίας. Εξοπλισμένο με διορθωτικό δακτύλιο. Στη βιομηχανία υλικού, ορισμένα εξαρτήματα υλικού με έντονη αντανάκλαση μπορούν να παρατηρηθούν χρησιμοποιώντας φακούς BD με φωτεινά και σκοτεινά πεδία. Για παράδειγμα, στη βιομηχανία LCD, κατά την παρατήρηση και τη μέτρηση αγώγιμων σωματιδίων, ένα μεταλλογραφικό μικροσκόπιο μπορεί επίσης να συνδυαστεί με DIC για να κάνει το αντικείμενο να φαίνεται πιο τρισδιάστατο. Επειδή είναι πολωμένο, μια τεχνική μικροσκοπικής παρατήρησης που χρησιμοποιεί δύο σετ έγχρωμων φίλτρων για να σχηματίσει πολωμένο φως. Με βάση τις ιδιότητες διπλής διάθλασης, η κατεύθυνση της οπτικής διαδρομής μπορεί να αλλάξει. Φυσικά, το πολωμένο φως μπορεί να χρησιμοποιηθεί μόνο σε συνδυασμό με το DIC και έχει μικρή σημασία από μόνο του. Το μεταλλογραφικό μικροσκόπιο χρησιμοποιείται για τη μέτρηση και την ανάλυση μικρών διαστάσεων όπως εξαρτήματα IC και μεταλλογραφικές τομές. Μπορεί να μετρηθεί χρησιμοποιώντας το έξυπνο λογισμικό Iview SIMS, το οποίο έχει υψηλή ακρίβεια και μειώνει αποτελεσματικά τα ανθρώπινα σφάλματα μέτρησης. Εύκολο στην εκμάθηση και χρήση, μπορεί εύκολα να μετρήσει και να αναλύσει σχετικές διαστάσεις όπως σημεία, γραμμές, τόξα, ημιμεσημβρινούς, ευθύγραμμους μεσημβρινούς, γωνίες κ.λπ., να τραβήξει εύκολα φωτογραφίες μετρήσεων και να προσαρμόσει διάφορες αναφορές δοκιμών
