Η διαφορά μεταξύ κάθετου μικροσκοπίου και ανεστραμμένου μικροσκοπίου στην εφαρμογή
Η διαφορά μεταξύ όρθιας και ανεστραμμένης είναι απλώς ότι το όρθιο δείγμα τοποθετείται από κάτω και το ανεστραμμένο δείγμα τοποθετείται από πάνω. Ο όρθιος αντικειμενικός φακός είναι στραμμένος προς τα κάτω και ο ανεστραμμένος αντικειμενικός φακός είναι στραμμένος προς τα πάνω.
Το ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο χρησιμοποιείται συνήθως σε εργαστήρια εργοστασίων, επιστημονικά ερευνητικά ιδρύματα και πανεπιστήμια επειδή η επιφάνεια παρατήρησης του δείγματος συμπίπτει με την επιφάνεια του τραπεζιού εργασίας και ο στόχος παρατήρησης βρίσκεται κάτω από το τραπέζι εργασίας ενώ παρατηρείται προς τα πάνω. Αυτή η φόρμα παρατήρησης δεν περιορίζεται από το ύψος του δείγματος και μόνο μία επιφάνεια παρατήρησης είναι επίπεδη κατά την προετοιμασία του δείγματος. Η βάση του ανεστραμμένου μεταλλογραφικού μικροσκοπίου έχει μεγάλη επιφάνεια στήριξης, χαμηλό κέντρο βάρους και είναι σταθερή και αξιόπιστη. Το προσοφθάλμιο και η επιφάνεια στήριξης έχουν κλίση 45 μοιρών για άνετη παρατήρηση.
Το όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο έχει τις ίδιες βασικές λειτουργίες με το ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο. Εκτός από την ανάλυση και τον εντοπισμό δειγμάτων μετάλλων με ύψος 20-30mm, χρησιμοποιείται ευρύτερα για διαφανείς, ημιδιαφανείς ή αδιαφανείς ουσίες, επειδή συμμορφώνεται με τις καθημερινές συνήθειες του ανθρώπου. Το όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο παράγει μια θετική εικόνα κατά την παρατήρηση, η οποία διευκολύνει πολύ την παρατήρηση και την αναγνώριση του χρήστη. Εκτός από την ανάλυση και την αναγνώριση δειγμάτων μετάλλων με ύψος 20-30mm, παρατήρηση στόχων μεγαλύτερους από 3 microns και μικρότερους από 20 microns, όπως μεταλλικά κεραμικά, ηλεκτρονικά τσιπ, τυπωμένα κυκλώματα, υποστρώματα LCD, φιλμ, ίνες, κοκκώδη αντικείμενα, επιστρώσεις και άλλα υλικά, μπορούν να επιτύχουν καλά αποτελέσματα απεικόνισης στις επιφανειακές δομές και τα ίχνη τους.
