Μέθοδος επαλήθευσης για μεταλλογραφικά μικροσκόπια
1. Ιχνηλασιμότητα μέτρησης
Χρησιμοποιώντας μια κλίμακα μικροσκοπίου 0,01 mm ως δείγμα, συλλέξτε μικροσκοπικές εικόνες ζυγαριών με αντικειμενικούς φακούς 3,2, 6,3, 12,5, 25 και 50 φορές και ενδιάμεσους φακούς μεταβλητής μεγέθυνσης 8, 10, 12,5, 16 και 20 φορές αντίστοιχα, με την ίδια μεγέθυνση και 20 φορές. Το Σχήμα 1 δείχνει μια μικροσκοπική εικόνα μιας κλίμακας 100x που λαμβάνεται κάτω από έναν αντικειμενικό φακό 12,5x και έναν ενδιάμεσο μεταβλητό φακό μεγέθυνσης 8x, με διάμετρο οπτικού πεδίου 0,8 cm. Η συλλεγόμενη εικόνα είναι καθαρή, χωρίς εκτροπές ή γεωμετρικές παραμορφώσεις που παρατηρούνται με γυμνό μάτι και το φως μέσα στο οπτικό πεδίο είναι ομοιόμορφο. Μετρήστε τη γραμμή κλίμακας με παχύμετρο βερνιέ 0,02 mm και μετατρέψτε την στην πραγματική μεγέθυνση, η οποία πληροί τις απαιτήσεις του JB/T8230.6-1999 "Μεγέθυνση μικροσκοπίου". Εάν η θεωρητική μεγέθυνση είναι 100, η πραγματική μεγέθυνση είναι 202,4. Η θεωρητική μεγέθυνση είναι 500 και η πραγματική μεγέθυνση είναι 497,8. Τα σχετικά σφάλματα με τη θεωρητική μεγέθυνση είναι 1,8%, 0,12% και 0,44%, αντίστοιχα, και τα σχετικά σφάλματα είναι όλα<2%
Το αριστερό πλάτος του ίδιου τύπου γραμμής κλίμακας είναι 2,24 μ m, το μεσαίο πλάτος είναι 2,49 μ m και το δεξιό πλάτος είναι 2,56 μ m. Το σχετικό σφάλμα μεταξύ της μέγιστης και της ελάχιστης τιμής του * είναι 4,6%, υποδεικνύοντας ότι ο συντελεστής μεγέθυνσης σε ολόκληρο το οπτικό πεδίο πληροί τις απαιτήσεις του προτύπου JB/T8230.6-1999 "Μεγέθυνση μικροσκοπίου".
Η θεωρητική απόσταση της κλίμακας μικροσκοπίου 0,01 mm είναι 0,01 mm. Χρησιμοποιώντας λογισμικό ποσοτικής και ημιποσοτικής ανάλυσης εικόνας, η απόσταση μεταξύ των γραμμών κλίμακας στο Σχήμα 1 μετρήθηκε 5 φορές και τα αποτελέσματα της μέτρησης φαίνονται στον Πίνακα 2. Μπορεί να φανεί ότι το σχετικό σφάλμα μεταξύ των 5 αποτελεσμάτων μέτρησης και της θεωρητικής τιμής είναι μεταξύ 1,10% και 1,37%, υποδεικνύοντας ότι είναι επίσης οι απαιτήσεις του J8290/690/8290/690/890/890/890/90/890/890/890/90/890/90/890/890/890/90. πρότυπο.
Χρησιμοποιώντας μια κλίμακα μικροσκοπίου 0,01 mm ως δείγμα, η εικόνα κλίμακας μικροσκοπίου που λαμβάνεται από ένα σύστημα ψηφιακής φωτογραφίας είναι καθαρή και παρατηρείται οπτικά χωρίς εκτροπή ή παραμόρφωση. Η μέτρηση της μεγέθυνσης, της απόστασης και του πλάτους γραμμής κλίμακας της κλίμακας πληροί τις τυπικές απαιτήσεις, υποδεικνύοντας ότι η μέτρηση του μικροσκοπίου και του διαμορφωμένου συστήματος ψηφιακής φωτογραφίας μπορεί να εντοπιστεί στο Διεθνές Σύστημα Μονάδων (SI). Πληροί τις απαιτήσεις της μεταλλογραφικής ανάλυσης και επιθεώρησης και πληροί τις απαιτήσεις του ISO/IEC 17025:2005 για την ιχνηλασιμότητα των μετρήσεων.
2 Μικροδομή
Η μικροδομή των δειγμάτων όλκιμου σιδήρου που συλλέγονται χρησιμοποιώντας ένα σύστημα ψηφιακής απεικόνισης φαίνεται στο Σχήμα 2. Η μεγέθυνση συλλογής είναι 1000. Μπορεί να φανεί ότι η μικροδομή που συλλέγεται είναι καθαρή. Η μεγέθυνση εκτύπωσης έχει ρυθμιστεί στα 1000 και το μήκος του χάρακα 0,02 mm στην εικόνα μετράται με παχύμετρο βερνιέ 0,02 mm, που είναι 20,24 mm. Όταν μετατρέπεται σε μεγέθυνση 012, το σχετικό σφάλμα μεταξύ της μεγέθυνσης και της θεωρητικής ρύθμισης είναι 1. 2%, σύμφωνα με το JB/T 8230. Απαίτηση 6-1999. Η μικροδομή που συλλέγεται από το σύστημα ψηφιακής απεικόνισης πληροί τις απαιτήσεις της μεταλλογραφικής ανάλυσης και επιθεώρησης.
3 Μέτρηση μήκους
Χρησιμοποιήστε λογισμικό ποσοτικής και ημιποσοτικής ανάλυσης εικόνας για να μετρήσετε την απόσταση της γραμμής κλίμακας στο Σχήμα 1. Ξεκινώντας από την αριστερή * μεγάλη γραμμή κλίμακας, μετρήστε την απόσταση των γραμμών κλίμακας σε 30 θεωρητικές αποστάσεις 0,01, 0,02,..., 0,29, 0,30 mm από αριστερά προς τα δεξιά. Τα αποτελέσματα των μετρήσεων φαίνονται στον Πίνακα 3 και φαίνεται ότι το σχετικό σφάλμα μεταξύ των αποτελεσμάτων της μέτρησης και των θεωρητικών τιμών είναι μικρότερο από 2%. Αυτό το λογισμικό πληροί τις απαιτήσεις της μεταλλογραφικής ανάλυσης και επιθεώρησης για αποτελέσματα μέτρησης μήκους.
Σύγκριση 4 φασμάτων
Λαμβάνοντας ως παράδειγμα τη βαθμολογία σφαιροποίησης 20 χαλύβδινων σφαιρών, επιβεβαιώστε τη σύγκριση των φασμάτων λογισμικού ποσοτικής και ημιποσοτικής ανάλυσης εικόνας. Αρχικά, συλλέχθηκαν εικόνες της 20 χαλύβδινης κατασκευής. Μετά από έρευνα, οι εικόνες ήταν καθαρές και το μέγεθος του οπτικού πεδίου ελεγχόταν στα 71 mm × 97 mm. Μέσω σύγκρισης των φασμάτων, το επίπεδο σφαιροειδοποίησης της χαλύβδινης σφαίρας 20 προσδιορίστηκε ως επίπεδο
4. Η μεγέθυνση του τυπικού φάσματος για το DL/T 674-1999 "Grading of Pearlite Spheroidization in 20 Steel for Thermal Power Plants" είναι 500 και το μέγεθος του φάσματος επιπέδου σφαιροποίησης 4 είναι 68mm × 98mm. Τοποθετήστε τη συλλεγόμενη εικόνα και το τυπικό φάσμα στο ίδιο οπτικό πεδίο, αντιγράψτε τα στην οθόνη και εκτυπώστε τα σε οποιαδήποτε μεγέθυνση στην ίδια διεπαφή. Μετρήστε τη μεγέθυνση των δύο εικόνων, το τυπικό φάσμα είναι 316 φορές, η συλλεγόμενη εικόνα είναι 308 φορές και το σχετικό σφάλμα είναι -2. 53%, μετρήστε το μέγεθος δύο εικόνων και το τυπικό φάσμα είναι 43 mm × 60 mm. Μπορεί να φανεί ότι το δείγμα εικόνας πληροί τις απαιτήσεις τόσο για μεγέθυνση όσο και για μέγεθος οπτικού πεδίου.
