Μια σύντομη ανάλυση του τρόπου χρήσης του αντικειμενικού φακού και της εστίασης ενός μικροσκοπίου
Όταν χρησιμοποιείται ένα μικροσκόπιο, η αρχή εστίασης της χαμηλής μεγέθυνσης πρώτα και στη συνέχεια υιοθετείται υψηλή μεγέθυνση. Η εστίαση σε έναν στόχο χαμηλής μεγέθυνσης είναι ισοδύναμη με την εκτέλεση προκαταρκτικής εστίασης σε έναν υψηλό στόχο μεγέθυνσης. Κατά τη στροφή του στόχου υψηλής μεγέθυνσης, απλά περιστρέψτε απευθείας τον φακό (χωρίς να αλλάξετε το εστιακό μήκος που ρυθμίζεται αρχικά μέσω της λειτουργίας χαμηλής μεγέθυνσης). Κάτω από την υψηλή μεγέθυνση, ο ιστός μπορεί να παρατηρηθεί με μικρή μόνο ρύθμιση ή ακόμα και χωρίς ρύθμιση. Ωστόσο, πολλές οδηγίες λειτουργίας αποφεύγουν τη συγκεκριμένη αναφορά στο "αντικειμενικό φακό χαμηλής μεγέθυνσης".
Κατά τη χρήση μικροσκοπίων, ένας αντικειμενικός φακός 10x είναι ένας συνήθως χρησιμοποιούμενος τυπικός φακός για την εστίαση της εργασίας. Ο λόγος είναι ότι δεν θα υπάρξει δραστική αλλαγή από έναν αντικειμενικό φακό 10x σε έναν αντικειμενικό φακό μεγέθυνσης ή από έναν αντικειμενικό φακό 10x σε έναν αντικειμενικό φακό μεγέθυνσης. Ένας άλλος λόγος είναι ότι το εστιακό βάθος ενός φακού χαμηλότερου μεγέθους είναι μεγαλύτερο, καθιστώντας δύσκολη την ορθή οξύτητα του παρατηρητή να εστιάσει σωστά. Αυτό μπορεί να οδηγήσει σε επαφή μεταξύ του δείγματος και του φακού όταν μεταβαίνει απευθείας σε έναν αντικειμενικό φακό υψηλότερης μεγέθυνσης.
Ταυτόχρονα, ένας αντικειμενικός φακός 10x δεν είναι μόνο ένας τυπικός και συνήθως χρησιμοποιούμενος αντικειμενικός φακός στην εστίαση της εργασίας, αλλά περιλαμβάνει επίσης πολλά στην πρακτική εργασία. Για παράδειγμα, σε πολλά εθνικά πρότυπα που σχετίζονται με τη μεταλλογραφική εξέταση, είναι κοινό να συγκρίνουμε το πρότυπο φάσμα αναφοράς κάτω από 100x συνθήκες παρατήρησης και η απόκτηση 100x λαμβάνεται συνδυάζοντας 10x αντικειμενικό φακό με 10x προσοφθάλμιο. Ξεκινώντας από την πρακτική λειτουργία, εφόσον δεν είναι αυθαίρετη ή κακόβουλη, η προηγούμενη λειτουργία πρέπει να είναι η τοποθέτηση του αντικειμενικού φακού κοντά στο εστιακό επίπεδο. Κάτω από την κατάσταση του αντικειμενικού φακού 10x, όταν το δείγμα τοποθετείται σωστά, θα πρέπει να υπάρχουν θολές εικόνες, ακόμη και σχετικά σαφείς, οι οποίες μπορούν να ρυθμιστούν ελαφρώς και να συντονιστούν.
⑵ Σχετικά με την είσοδο και την έξοδο
Η εμπειρία μας διαφέρει σημαντικά από τις περιγραφές σε άλλη βιβλιογραφία σχετικά με το ζήτημα της εστίασης μετά τη μετατροπή από χαμηλή μεγέθυνση σε στόχους υψηλής μεγέθυνσης. Λόγω της βελτίωσης της τεχνολογίας κατασκευής μικροσκοπίου, η ομοιογένεια διαφορετικών στόχων στα μικροσκόπια είναι σχετικά καλή, ειδικά για ξένα προϊόντα. Επομένως, όταν εστιάζεστε σαφώς σε χαμηλή μεγέθυνση και στρέφοντας σε υψηλή μεγέθυνση για παρατήρηση, μερικές φορές δεν υπάρχει ανάγκη να εστιάσετε ξανά και η εικόνα είναι ήδη πολύ σαφής. Εναλλακτικά, η ελαφρά αύξηση της απόστασης του αντικειμένου είναι επαρκής και ο βαθμός προσαρμογής δεν περιορίζεται στην έννοια των στροφών {0}}, δηλαδή 1-3 βαθμών (γωνία), που είναι μια εξαιρετικά μικρή ποσότητα προσαρμογής.
⑶ Σχετικά με τον αντικειμενικό μετατροπέα φακού
Κατά τη μετατροπή του αντικειμενικού φακού, μην το πιέζετε απευθείας με το χέρι, αλλιώς μπορεί να προκαλέσει τη χαλάρωση και την ολίσθηση του σταθερού αντικειμενικού φακού, προκαλώντας κλίση του οπτικού άξονα. Ο αντικειμενικός φακός του μικροσκοπίου και το σύστημα ψηφιακής κάμερας μικροσκοπίου βιδώνονται στον αντικειμενικό μετατροπέα. Όταν αλλάζετε διαφορετικούς αντικειμενικούς φακούς, περιστρέψτε τον αντικειμενικό μετατροπέα φακού μέχρις ότου ακούγονται ένας ελαφρύς ήχος "κλικ" και μια ξαφνική αύξηση της αφής αντίστασης ακούγονται από το αυτί. Σε αυτό το σημείο, ο αντικειμενικός φακός βρίσκεται στην κανονική του θέση εργασίας: κάθετα στο επίπεδο της σκηνής.
