Πεδία εφαρμογής μεταλλουργικών μικροσκοπίων σε όλες τις βιομηχανίες
Προερχόμενο από τη μεταλλογραφία, το μεταλλουργικό μικροσκόπιο είναι ένα επαγγελματικό όργανο που χρησιμοποιείται κυρίως για την παρατήρηση μεταλλογραφικών δομών. Έχει σχεδιαστεί για να εξετάζει τη μεταλλογραφική μικροδομή αδιαφανών δειγμάτων όπως μέταλλα και ορυκτά. Αυτά τα αδιαφανή δείγματα δεν μπορούν να παρατηρηθούν με συνηθισμένα μικροσκόπια εκπεμπόμενου φωτός. Επομένως, η βασική διαφορά μεταξύ ενός μεταλλουργικού μικροσκοπίου και ενός συμβατικού μικροσκοπίου έγκειται στον φωτισμό: το πρώτο χρησιμοποιεί ανακλώμενο φως ενώ το δεύτερο βασίζεται στο μεταδιδόμενο φως.
Τα μεταλλουργικά μικροσκόπια διαθέτουν εξαιρετική σταθερότητα, ευκρινή απεικόνιση, υψηλή ανάλυση και μεγάλο επίπεδο οπτικό πεδίο. Η παρατήρηση μπορεί να πραγματοποιηθεί όχι μόνο μέσω των προσοφθάλμιων φακών, αλλά και σε πραγματικό χρόνο στην οθόνη ενός υπολογιστή ή ψηφιακής κάμερας. Οι ληφθείσες εικόνες μπορούν να επεξεργαστούν, να αποθηκευτούν και να εκτυπωθούν. Εφαρμόζονται ευρέως στην επεξεργασία υλικού, τη μεταλλογραφική τομή, τα εξαρτήματα IC, τις βιομηχανίες LCD και LED.
Υπάρχουν πέντε κοινοί τύποι αντικειμένων για μεταλλουργικά μικροσκόπια: EPI φωτεινού πεδίου φθορισμού, BD φωτεινού πεδίου-σκοτεινού πεδίου, SLWD εξαιρετικά μεγάλη απόσταση εργασίας, ELWD εκτεταμένη μεγάλη απόσταση εργασίας και αντικειμενικοί στόχοι με κολάρο διόρθωσης. Στη βιομηχανία υλικού, οι αντικειμενικοί φακοί BD φωτεινού πεδίου-σκοτεινού πεδίου είναι κατάλληλοι για μεταλλικά τεμάχια κατεργασίας υψηλής ανακλαστικότητας. Για παράδειγμα, κατά την παρατήρηση και τη μέτρηση αγώγιμων σωματιδίων στη βιομηχανία LCD, το μεταλλουργικό μικροσκόπιο μπορεί να εξοπλιστεί με DIC για την παραγωγή στερεοσκοπικών όψεων. Αυτό το σύστημα υιοθετεί τεχνολογία πολωμένου φωτός χρησιμοποιώντας ζευγαρωμένα φίλτρα. Με βάση τη διπλή διάθλαση, αλλάζει την κατεύθυνση της διαδρομής του φωτός με ελεγχόμενο τρόπο. Η ίδια η πόλωση προσφέρει περιορισμένα οφέλη και λειτουργεί καλύτερα όταν συνδυάζεται με DIC.
Κατά τη μέτρηση και την ανάλυση μικροσκοπικών χαρακτηριστικών στοιχείων IC και μεταλλογραφικών τομών, μπορεί να χρησιμοποιηθεί το έξυπνο λογισμικό μέτρησης Iview-DIMS. Παρέχει υψηλή ακρίβεια και μειώνει αποτελεσματικά τα σφάλματα χειροκίνητης μέτρησης. Το λογισμικό είναι φιλικό προς τον χρήστη και υποστηρίζει μέτρηση και ανάλυση σημείων, γραμμών, τόξων, ακτίνων, διαμέτρων, γωνιών και άλλων γεωμετρικών διαστάσεων. Μπορεί επίσης να καταγράψει εικόνες μέτρησης και να δημιουργήσει προσαρμοσμένες αναφορές δοκιμών.
