Εφαρμογή Μεταλλογραφικών Μικροσκοπίων σε Βιομηχανίες
Τα μεταλλογραφικά μικροσκόπια προέρχονται από τη μεταλλογραφία. Είναι επαγγελματικά όργανα που χρησιμοποιούνται κυρίως για την παρατήρηση μεταλλογραφικών δομών, ειδικά για την εξέταση της μεταλλογραφικής μικροδομής αδιαφανών αντικειμένων όπως μέταλλα και ορυκτά. Αυτά τα αδιαφανή δείγματα δεν μπορούν να παρατηρηθούν με συνηθισμένα μικροσκόπια φωτός μετάδοσης. Επομένως, η κύρια διαφορά μεταξύ των μεταλλογραφικών μικροσκοπίων και των συνηθισμένων μικροσκοπίων είναι ότι το πρώτο χρησιμοποιεί φωτισμό ανακλώμενου φωτός ενώ το δεύτερο βασίζεται στο μεταδιδόμενο φως.
Τα μεταλλογραφικά μικροσκόπια διαθέτουν εξαιρετική σταθερότητα, ευκρινή απεικόνιση, υψηλή ανάλυση και μεγάλο επίπεδο οπτικό πεδίο. Οι παρατηρήσεις μπορούν να πραγματοποιηθούν όχι μόνο μέσω του προσοφθάλμιου φακού, αλλά και ως δυναμικές εικόνες σε πραγματικό χρόνο στην οθόνη ενός υπολογιστή ή ψηφιακής φωτογραφικής μηχανής. Οι ληφθείσες εικόνες μπορούν να επεξεργαστούν, να αποθηκευτούν και να εκτυπωθούν. Εφαρμόζονται ευρέως σε υλικό, μεταλλογραφική τομή, εξαρτήματα IC, LCD, LED και άλλα πεδία.
Υπάρχουν πέντε τύποι αντικειμενικών φακών για μεταλλογραφικά μικροσκόπια: αντικειμενικοί φακοί φθορισμού EPI, αντικειμενικοί φακοί φωτεινού/σκοτεινού πεδίου BD, αντικειμενικοί στόχοι υπερμακράς απόστασης εργασίας SLWD, αντικειμενικοί στόχοι μεγάλης απόστασης εργασίας ELWD και στόχοι με διορθωτικούς δακτυλίους. Στη βιομηχανία υλικού, οι στόχοι φωτεινού/σκοτεινού πεδίου BD μπορούν να επιλεγούν για την παρατήρηση εξαρτημάτων υλικού με υψηλή ανακλαστικότητα. Για παράδειγμα, κατά την παρατήρηση και τη μέτρηση αγώγιμων σωματιδίων στη βιομηχανία LCD, το μεταλλογραφικό μικροσκόπιο μπορεί να εξοπλιστεί με DIC για να ληφθούν περισσότερες στερεοσκοπικές όψεις. Αυτή είναι μια τεχνική μικροσκοπίας πολωμένου φωτός που χρησιμοποιεί ζευγαρωμένα φίλτρα. Ανακατευθύνει τη διαδρομή φωτός σύμφωνα με τις ιδιότητες διπλής διάθλασης. Σημειώστε ότι το πολωμένο φως είναι συνήθως λειτουργικό μόνο όταν συνδυάζεται με DIC και έχει περιορισμένη αξία όταν χρησιμοποιείται μόνο του.
Όταν χρησιμοποιούνται μεταλλογραφικά μικροσκόπια για μέτρηση και ανάλυση μικροσκοπικών χαρακτηριστικών σε εξαρτήματα IC και μεταλλογραφικές τομές, μπορεί να χρησιμοποιηθεί το έξυπνο λογισμικό μέτρησης Iview-DIMS. Παρέχει υψηλή ακρίβεια και μειώνει αποτελεσματικά τα σφάλματα χειροκίνητης μέτρησης. Το λογισμικό είναι φιλικό προς το χρήστη και υποστηρίζει τη μέτρηση και την ανάλυση σημείων, γραμμών, τόξων, ακτίνων, διαμέτρων, γωνιών και άλλων γεωμετρικών διαστάσεων. Μπορεί επίσης να καταγράψει εικόνες μέτρησης και να δημιουργήσει προσαρμοσμένες αναφορές δοκιμών.
