Σύζευξη AFM και ανεστραμμένο οπτικό μικροσκόπιο
Το ανεστραμμένο οπτικό μικροσκόπιο σε συνδυασμό με απεικόνιση AFM προσφέρει τη μοναδική ευκαιρία για οπτικά δεδομένα (π.χ. σχετικές αναλογίες ή δεδομένα φθορισμού) να συνδυαστούν με μορφολογικές εικόνες υψηλής ανάλυσης και μηχανικά δεδομένα που μόνο ένα AFM μπορεί να παρέχει.
Λόγω της δομής σχεδιασμού ανοιχτής οπτικής διαδρομής του FlexAFM, το φως μπορεί να περάσει μέσα από το FlexAFM σχεδόν ανεμπόδιστα και η ειδική οπτική σχεδίαση SureAlign™ της βάσης βραχίονα με πρόβολο SA καθιστά απλή και εύκολη τη λειτουργία του FlexAFM σε περιβάλλοντα δοκιμών υγρών χωρίς την ανάγκη λέιζερ. ευθυγραμμία. Όταν συνδυάζεται με την επιλογή μικροσκοπίου ανεστραμμένου φωτός, το FlexAFM γίνεται έτσι η ιδανική συσκευή για την απεικόνιση και τον χαρακτηρισμό των κυττάρων σε ένα φυσιολογικό περιβάλλον. Σε αυτό το παράδειγμα, απεικονίστηκαν ζωντανοί ινοβλάστες αρουραίου-2.
Οι εφαρμογές του FlexAFM σε συνδυασμό με ένα μικροσκόπιο ανεστραμμένου φωτός σίγουρα δεν περιορίζονται στις βιοεπιστήμες. Τα παρακάτω δείγματα παρουσιάζονται, με δείγματα επικαλυμμένου γυαλιού να αναλύονται τόσο με οπτικό μικροσκόπιο όσο και με AFM. το AFM παρέχει δεδομένα υψηλότερης ανάλυσης για την περιοχή υπό παρατήρηση και εξηγεί τη φύση των δομών που φαίνονται στο οπτικό μικροσκόπιο. Μπορεί επίσης να χρησιμοποιηθεί για τον προσδιορισμό του πάχους της επίστρωσης.
Εικόνες κυττάρων PiD: (αριστερά) Σχετική σύγκριση εικόνας μικροσκοπίου ανεστραμμένου φωτός μέσω συσκευής FlexAFM και επιλογής μικροσκοπίας ανεστραμμένου φωτός, που δείχνει ζωντανά ινοπρογονικά κύτταρα αρουραίου-2 και κρεμαστό βραχίονα AFM σε μέσο κυτταροκαλλιέργειας. (Δεξιά) Εικόνα AFM κυττάρων κάτω από την ίδια συσκευή, που δείχνει λεπτομέρειες του κυτταροσκελετού αρουραίου-2, ο οποίος διακρίνεται εύκολα στην κυτταρική μεμβράνη αυτών των κυττάρων. Μέγεθος εικόνας AFM: 70 μm × 60 μm.
Σχετική αναλογία επικαλυμμένου γυαλιού (πάνω) και εικόνας AFM (κάτω). Στο οπτικό μικροσκόπιο παρατηρούνται δομές παρόμοιας υφής (π.χ. ωοειδείς εσωτερικοί χώροι) που αντιστοιχούν σε οπές στην επικάλυψη, όπως φαίνεται από τις μετρήσεις AFM. Παρέχουν μια ** μέθοδο για τον προσδιορισμό του πάχους της επίστρωσης, που για αυτό το παράδειγμα είναι ίσο με 40 nm. Μέγεθος εικόνας AFM: 90 μm × 35 μm.
