Οδηγίες χρήσης μικροσκοπίων
(1) Κατά τη διάρκεια του πειράματος, το μικροσκόπιο θα πρέπει να τοποθετηθεί στην επιφάνεια εργασίας και η βάση του καθρέφτη πρέπει να απέχει περίπου 6-7cm από την άκρη του τραπεζιού. Ενεργοποιήστε τον διακόπτη της κάτω πηγής φωτός.
(2) Περιστρέψτε τον μετατροπέα έτσι ώστε ο φακός χαμηλής μεγέθυνσης να βλέπει την διαμπερή οπή στη σκηνή. Στη συνέχεια, κοιτάξτε τον προσοφθάλμιο φακό και με τα δύο μάτια, προσαρμόστε την ένταση της πηγής φωτός, σηκώστε τον προβολέα, ρυθμίστε το διάφραγμα της ίριδας στο μέγιστο και αντανακλάστε το φως στον καθρέφτη. Σε αυτό το σημείο, το οπτικό πεδίο φαίνεται φωτεινό.
(3) Τοποθετήστε το παρατηρούμενο κομμάτι στη σκηνή έτσι ώστε το παρατηρούμενο τμήμα να βρίσκεται στο κέντρο της διαμπερούς οπής.
(4) Αρχικά, παρατηρήστε με φακό χαμηλής μεγέθυνσης (αντικειμενικός φακός 10 x, προσοφθάλμιος φακός 10 x). Πριν από την παρατήρηση, περιστρέψτε τη βίδα χονδροειδούς εστίασης για να ανυψώσετε τη σκηνή και να φέρετε σταδιακά τον αντικειμενικό φακό πιο κοντά στη φέτα. Λάβετε υπόψη ότι ο αντικειμενικός φακός δεν πρέπει να αγγίζει τη γυάλινη ολίσθηση για να αποφευχθεί η σύνθλιψή του από τον φακό. Και περιστρέψτε τη βίδα χονδροειδούς εστίασης για να χαμηλώσετε αργά τη σκηνή και σύντομα θα δείτε τη μεγεθυμένη εικόνα του υλικού στη γυάλινη διαφάνεια.
(5) Εάν το αντικείμενο που φαίνεται στο οπτικό πεδίο δεν πληροί τις πειραματικές απαιτήσεις (το αντικείμενο αποκλίνει από το οπτικό πεδίο), ο χάρακας μπορεί να μετακινηθεί αργά αριστερά και δεξιά. Κατά την κίνηση, είναι σημαντικό να σημειωθεί ότι η κατεύθυνση της κίνησης της διαφάνειας είναι ακριβώς αντίθετη από την κατεύθυνση της κίνησης του αντικειμένου στο οπτικό πεδίο. Εάν η εικόνα του αντικειμένου δεν είναι πολύ καθαρή, μπορείτε να προσαρμόσετε τη σπείρα λεπτής εστίασης έως ότου η εικόνα του αντικειμένου είναι καθαρή.
(6) Εάν χρησιμοποιείτε αντικειμενικό φακό υψηλής ισχύος για περαιτέρω παρατήρηση, το τμήμα του αντικειμένου που χρειάζεται μεγέθυνση για παρατήρηση θα πρέπει να μετακινηθεί στο κέντρο του οπτικού πεδίου πριν από τη μετάβαση σε έναν αντικειμενικό φακό υψηλής ισχύος (κατά την εναλλαγή από αντικειμενικός στόχος χαμηλής ισχύος σε αντικειμενικό αντικείμενο υψηλής ισχύος για παρατήρηση, η εμβέλεια του αντικειμένου στο οπτικό πεδίο είναι πολύ μειωμένη). Ένα μικροσκόπιο με κανονικές λειτουργίες έχει συνήθως έναν αντικειμενικό στόχο χαμηλής μεγέθυνσης και έναν αντικειμενικό στόχο υψηλής μεγέθυνσης που είναι βασικά στο επίκεντρο. Όταν παρατηρείτε καθαρά με έναν αντικειμενικό στόχο χαμηλής μεγέθυνσης, η αντικατάσταση του αντικειμενικού αντικειμένου υψηλής μεγέθυνσης θα πρέπει να δείχνει την εικόνα του αντικειμένου, αλλά η εικόνα του αντικειμένου μπορεί να μην είναι πολύ καθαρή. Η σπείρα λεπτής εστίασης μπορεί να περιστραφεί για προσαρμογή.
(7) Αφού μεταβείτε σε αντικειμενικό φακό υψηλής ισχύος και δείτε το αντικείμενο καθαρά, το διάφραγμα ή ο προβολέας μπορεί να ρυθμιστεί όπως απαιτείται για να ανταποκρίνεται στις απαιτήσεις του φωτός (γενικά, κατά τη μετάβαση από έναν αντικειμενικό φακού χαμηλής ισχύος σε έναν αντικειμενικό φακού υψηλής ισχύος για παρατήρηση, το οπτικό πεδίο πρέπει να είναι ελαφρώς πιο σκούρο, επομένως η ένταση του φωτός πρέπει να ρυθμιστεί).
(8) Μετά την παρατήρηση, ο αντικειμενικός φακός πρέπει πρώτα να απομακρυνθεί από την οπή φωτός και στη συνέχεια να αποκατασταθεί το μικροσκόπιο. Και ελέγξτε για τυχόν ζημιές στα εξαρτήματα (ιδιαίτερα προσέξτε εάν ο αντικειμενικός φακός είναι βρεγμένος, εάν είναι υγρός, σκουπίστε τον με χαρτί φακού). Μετά από επιθεώρηση και χειρισμό, μπορεί να επανατοποθετηθεί στην αρχική του θέση.
