Σε πόσες κατηγορίες ταξινομούνται τα ομοεστιακά μικροσκόπια λέιζερ;
Τα κύρια εξαρτήματα ενός ομοεστιακού μικροσκοπίου λέιζερ περιλαμβάνουν: μικροσκόπιο, πηγή φωτός λέιζερ, συσκευή σάρωσης, ανιχνευτή, σύστημα υπολογιστή (συμπεριλαμβανομένης της λήψης δεδομένων, επεξεργασίας, μετατροπής και λογισμικού εφαρμογής), συσκευή εξόδου εικόνας, οπτική συσκευή και σύστημα ομοεστιακής.
Το φως που συλλέγεται από τα συνηθισμένα οπτικά μικροσκόπια είναι ένας συνδυασμός μη μετρούμενου φωτός από πάνω και κάτω από το εστιακό επίπεδο, καθώς και ανακλώμενου και διαθλασμένου φωτός από το δείγμα, με αποτέλεσμα χαμηλή ανάλυση. Η ομοεστιακή μικροσκοπία χρησιμοποιεί την αρχή της ομοεστιακής μικροσκοπίας για να φιλτράρει το αδέσποτο φως που σχηματίζεται από μη μετρούμενα φωτεινά σημεία στο εστιακό επίπεδο και το ανακλώμενο και διαθλασμένο φως από διαφορετικά εστιακά επίπεδα του δείγματος, επιτρέποντας μόνο στο φως από το εστιακό επίπεδο να περάσει μέσα από την οπή ανίχνευσης, βελτιώνοντας σημαντικά την ποιότητα της εικόνας.
Υπάρχουν δύο κύριοι τύποι ομοεστιακών μικροσκοπίων λέιζερ. Το ένα είναι η απεικόνιση μικροσκοπίου φθορισμού, η οποία είναι εξοπλισμένη με συσκευή σάρωσης λέιζερ και χρησιμοποιεί επεξεργασία εικόνας από υπολογιστή για να βελτιώσει την ανάλυση της οπτικής απεικόνισης κατά 30% -40%. Οι ανιχνευτές φθορισμού διεγείρονται από το υπεριώδες ή ορατό φως για να ληφθούν φθορίζουσες εικόνες της εσωτερικής μικροδομής των κυττάρων ή των ιστών. Φυσιολογικά σήματα όπως Ca2+, τιμή pH, δυναμικό μεμβράνης και αλλαγές στη μορφολογία των κυττάρων παρατηρούνται σε υποκυτταρικό επίπεδο, καθιστώντας το ένα ισχυρό ερευνητικό εργαλείο στους τομείς της μορφολογίας, της μοριακής βιολογίας, της νευροεπιστήμης, της φαρμακολογίας, της γενετικής και άλλα. Το δεύτερο είναι ένα όργανο ανίχνευσης που χρησιμοποιεί συνεστιακή τεχνολογία ως αρχή, σε συνδυασμό με μονάδες σάρωσης κατεύθυνσης Z-ακρίβειας, αλγόριθμους μοντελοποίησης 3D κ.λπ. για την εκτέλεση σάρωσης χωρίς επαφή των επιφανειών της συσκευής και τη δημιουργία επιφανειακών τρισδιάστατων εικόνων για μέτρηση μικρονανοεπιπέδου διαφόρων συσκευών ακριβείας και επιφανειών υλικού.
