Όρθιο μικροσκόπιο ή ανεστραμμένο μικροσκόπιο;
Πριν απαντήσουμε σε αυτήν την ερώτηση, είναι απαραίτητο να διευκρινίσουμε τις διαφορές μεταξύ των όρθων μικροσκοπίων και των ανεστραμμένων μικροσκοπίων.
Τα μεταλλογραφικά μικροσκόπια, γνωστά και ως μικροσκόπια υλικού, χρησιμοποιούνται κυρίως για την παρατήρηση της μικροδομής των μετάλλων. Μπορούν να χωριστούν σε όρθια μεταλλογραφικά μικροσκόπια και σε ανεστραμμένα μεταλλογραφικά μικροσκόπια.
Ένα όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο σχηματίζει μια εικόνα κατά την παρατήρηση, η οποία προσφέρει μεγάλη ευκολία στους χρήστες να δουν και να διακρίνουν. Εκτός από τα δείγματα με ύψος μεγαλύτερο από 20–30 mm, συμμορφώνεται με τις συνήθεις συνήθειες παρατήρησης των ανθρώπων. Ως εκ τούτου, χρησιμοποιείται ευρέως για την παρατήρηση διαφανών, ημιδιαφανών ή αδιαφανών ουσιών, με στόχους παρατήρησης που κυμαίνονται από 3 μικρά έως 20 μικρά, όπως μέταλλα, κεραμικά, ηλεκτρονικά τσιπ, τυπωμένα κυκλώματα, υποστρώματα LCD, λεπτές μεμβράνες, ίνες, δείγματα σωματιδίων, επιστρώσεις και δομές επιφάνειας υλικού. Τα ίχνη μπορούν να διατηρηθούν και να αποθηκευτούν καλά. Επιπλέον, το υποστηρικτικό σύστημα απεικόνισης μπορεί να συνδεθεί με έναν υπολογιστή για τη λήψη τόσο στατικών όσο και δυναμικών εικόνων. Μπορεί να εξοπλιστεί με διάφορα λογισμικά για να καλύψει περισσότερες επαγγελματικές ανάγκες στη μεταλλογραφία, τη μέτρηση, τη διδασκαλία και την επιστημονική έρευνα. Το ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο χρησιμοποιεί μεθόδους οπτικής απεικόνισης για τον εντοπισμό και την ανάλυση των δομών διαφόρων μετάλλων και κραμάτων. Είναι ένα σημαντικό εργαλείο για την έρευνα φυσικής μεταλλουργίας. Χρησιμοποιείται ευρέως σε εργοστάσια και εργαστήρια για επιθεώρηση χύτευσης, επιθεώρηση πρώτων υλών και δομική ανάλυση μεταλλικών υλικών μετά τη θερμική επεξεργασία, έτσι ώστε να παρέχονται διαισθητικά αποτελέσματα ανάλυσης. Είναι ο βασικός εξοπλισμός για τον προσδιορισμό της ποιότητας στις διεργασίες χύτευσης, τήξης και θερμικής επεξεργασίας στις βιομηχανίες εξόρυξης, μεταλλουργίας, μεταποίησης και μεταποίησης μηχανημάτων. Τα τελευταία χρόνια, η βιομηχανία ηλεκτρονικών ειδών χρειάζεται επίπεδα δείγματα υψηλής μεγέθυνσης για την υποστήριξη της παραγωγής τσιπ. Για το λόγο αυτό, ανεστραμμένα μεταλλογραφικά μικροσκόπια έχουν εισαχθεί στον τομέα αυτό και αναβαθμίζονται συνεχώς για να ανταποκρίνονται στις ειδικές απαιτήσεις επιθεώρησης του κλάδου. Διαφορετικά από τον ανεστραμμένο τύπο, η επιφάνεια παρατήρησης του δείγματος σε ένα όρθιο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο είναι στραμμένη προς τα κάτω και τοποθετείται στη σκηνή του δείγματος, ενώ ο αντικειμενικός φακός βρίσκεται κάτω από τη σκηνή για παρατήρηση προς τα πάνω. Αυτή η μορφή δεν περιορίζεται από το ύψος του δείγματος, προσφέροντας άνετη λειτουργία, συμπαγή δομή και ελκυστική εμφάνιση. Η βάση του ανεστραμμένου μεταλλογραφικού μικροσκοπίου έχει μεγάλη επιφάνεια στήριξης και χαμηλό κέντρο βάρους για σταθερή λειτουργία. Ο σωλήνας του προσοφθάλμιου φακού έχει κλίση 45 μοιρών σε σχέση με την επιφάνεια στήριξης για άνετη θέαση.
