Μέθοδος χρήσης φακών χαμηλής ισχύος-για μεταλλογραφικά μικροσκόπια
1. Μεταλλογραφικό μικροσκόπιο φωτός
Περιστρέψτε τη χονδροειδή βίδα ρύθμισης με το αριστερό σας χέρι για να σηκώσετε την κάννη του φακού ή να χαμηλώσετε τη σκηνή, μετά περιστρέψτε τον μετατροπέα φακού αντικειμενικού φακού για να ευθυγραμμίσετε τον καθρέφτη χαμηλής μεγέθυνσης με την διαμπερή οπή της σκηνής (προσέξτε να ευθυγραμμίσετε την εγκοπή πάνω από τον αντικειμενικό φακό με τη σταθερή πόρπη της βάσης κατά την περιστροφή), ανοίξτε το κάτοπτρο συλλέγοντας το άνοιγμα. επίπεδο φακού στο επάνω μέρος του καθρέφτη συλλογής φωτός ελαφρώς χαμηλότερο από το ύψος του επιπέδου σκηνής, ανοίξτε και τα δύο μάτια ταυτόχρονα και ρυθμίστε την κατεύθυνση του ανακλαστήρα έως ότου το φως στο οπτικό πεδίο είναι ομοιόμορφο και η φωτεινότητα είναι μέτρια.
2. Τοποθετήστε τα δείγματα γυάλινων πλακών κάτω από ένα μεταλλογραφικό μικροσκόπιο
Πάρτε ένα δείγμα γυάλινης διαφάνειας και τοποθετήστε το στη σκηνή, με το γυαλί του καλύμματος στραμμένο προς τα πάνω. Στερεώστε το στον ωστήρα και, στη συνέχεια, περιστρέψτε χειροκίνητα τη βίδα ώθησης για να ευθυγραμμίσετε το δείγμα που πρόκειται να παρατηρηθεί με το κέντρο της οπής φωτός.
3. Ρυθμίστε την εστιακή απόσταση του μεταλλογραφικού μικροσκοπίου
Περιστρέψτε τη βίδα χονδροειδούς ρύθμισης με το χέρι για να κάνετε την απόσταση μεταξύ του καθρέφτη χαμηλής μεγέθυνσης και του δείγματος ολίσθησης μικρότερη από 6 mm (κατά τη ρύθμιση, η απόσταση μεταξύ του αντικειμενικού φακού και της ολίσθησης πρέπει να τηρείται από το πλάι και μην περιστρέφετε τη βίδα χονδροειδούς ρύθμισης ενώ παρατηρείτε με τα μάτια στο προσοφθάλμιο για να αποφύγετε ζημιές στο προσοφθάλμιο). Στη συνέχεια, ανοίξτε και τα δύο μάτια ταυτόχρονα, περιστρέψτε αργά τη βίδα χονδροειδούς ρύθμισης με το χέρι για να σηκώσετε τον φακό ή να χαμηλώσετε τη σκηνή. Όταν μια εικόνα αντικειμένου εμφανίζεται στο οπτικό πεδίο, προσαρμόστε τη λεπτή βίδα ρύθμισης μέχρι να εμφανιστεί μια καθαρή εικόνα αντικειμένου στο οπτικό πεδίο. Εάν η εικόνα του αντικειμένου δεν βρίσκεται στο κέντρο του οπτικού πεδίου, η θέση του δείγματος διαφάνειας μπορεί να μετακινηθεί πάνω, κάτω, αριστερά και δεξιά (σημείωση: η κατεύθυνση κίνησης του θραύσματος είναι αντίθετη από την κατεύθυνση της κίνησης της εικόνας αντικειμένου που παρατηρείται). Εάν η απόσταση μεταξύ του φακού και του δείγματος υπερβαίνει την απόσταση εργασίας και δεν εμφανίζεται εικόνα αντικειμένου κατά τη ρύθμιση της εστιακής απόστασης, τα παραπάνω βήματα θα πρέπει να ακολουθηθούν ξανά αυστηρά.
Οδηγίες χρήσης μεταλλογραφικού μικροσκοπίου χαμηλής μεγέθυνσης
